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龍圖騰網恭喜浙江大學申請的專利一種測量溶液中納米顆粒粒度三維分布的方法及裝置獲國家發明授權專利權，本發明授權專利權由國家知識產權局授予，授權公告號為：CN112595635B 。

龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-05-30發布的發明授權授權公告中獲悉：該發明授權的專利申請號/專利號為：202011479142.2，技術領域涉及：G01N15/0205；該發明授權一種測量溶液中納米顆粒粒度三維分布的方法及裝置是由吳學成;吳迎春;陳玲紅;南海嬌;鄭成航;高翔;邱坤贊;岑可法設計研發完成，并于2020-12-15向國家知識產權局提交的專利申請。

本一種測量溶液中納米顆粒粒度三維分布的方法及裝置在說明書摘要公布了：本發明公開了一種測量溶液中納米顆粒粒度三維分布的方法：用激光束照射納米顆粒，形成的散射光與經過光路調制的參考光干涉形成全息干涉條紋，并記錄到相機上得到納米顆粒數字全息圖；對數字全息圖進行三維重建，得到納米顆粒的聚焦圖像；根據聚焦圖像中的散射信號，基于動態光散射原理和納米顆粒的粒度與擴散系數的相關關系，求得納米顆粒的粒度。本發明還公開了一種測量溶液中納米顆粒粒度三維分布的裝置：信號發射單元，包括連續激光器和光路調整段；信號接收單元，包括相機，記錄全息干涉條紋；信號處理單元，連接于信號接收單元之后，用于納米顆粒數字全息圖的處理。該方法及裝置實現了原位測量樣品池內三維位置瞬時的納米顆粒粒度分布。

本發明授權一種測量溶液中納米顆粒粒度三維分布的方法及裝置在權利要求書中公布了：1.一種測量溶液中納米顆粒粒度三維分布的方法，其特征在于，所述方法包括以下步驟：1用激光束照射樣品池中納米顆粒，納米顆粒形成的散射光與經過光路調制的參考光干涉形成全息干涉條紋，并以Δτ的時間間隔和角度θ記錄到相機感光芯片上，得到測量時段內一系列做布朗運動的納米顆粒數字全息圖；2對步驟1中記錄的納米顆粒數字全息圖進行三維重建，得到樣品池中納米顆粒在任意x-y截面的聚焦圖像，所述x-y截面為與入射光線垂直的截面；3根據步驟2中聚焦圖像中的散射信號，基于動態光散射原理，依據納米顆粒的粒度d與擴散系數DT的相關關系，求得截面中納米顆粒的粒度d；所述步驟2中對納米顆粒數字全息圖進行三維重建，得到樣品池中納米顆粒在任意x-y截面的聚焦圖像的方法為：利用卷積重建法進行三維重建，全息重建圖像中的第三項|RR*|O包含物光信息，利用瑞利-索末菲衍射公式來重建全息圖的復振幅分布表示為： 其中x,y和u,v分別為全息平面和重建平面的坐標，zr為重建距離，Γ代表重建光場的復振幅分布；將上述公式改寫成卷積形式： 其中gu,v,zr為： 對上式進行兩次傅里葉變換和傅里葉逆變換對其進行數值計算：Γm,n＝F-1{F{URIH}·F{g}}m,n得到全息圖不同重建距離zr的x-y截面的聚焦圖像。

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