恭喜鋼研納克檢測技術股份有限公司趙英飛獲國家專利權
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龍圖騰網恭喜鋼研納克檢測技術股份有限公司申請的專利一種寬譜段高分辨電感耦合等離子體發射光譜儀獲國家發明授權專利權,本發明授權專利權由國家知識產權局授予,授權公告號為:CN113267486B 。
龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-05-16發布的發明授權授權公告中獲悉:該發明授權的專利申請號/專利號為:202110758756.2,技術領域涉及:G01N21/73;該發明授權一種寬譜段高分辨電感耦合等離子體發射光譜儀是由趙英飛;羅劍秋;曹海霞;夏鐘海;李宏偉;何淼;王衛東;周偉設計研發完成,并于2021-07-05向國家知識產權局提交的專利申請。
本一種寬譜段高分辨電感耦合等離子體發射光譜儀在說明書摘要公布了:本發明公開了一種寬譜段高分辨電感耦合等離子體發射光譜儀,屬光譜儀器技術領域。該發射光譜儀包括進樣系統、激發光源、色散系統、控制與檢測系統和數據處理系統,所述進樣系統、激發光源、色散系統和數據處理系統依次連接,所述控制與檢測系統分別與進樣系統、激發光源和數據處理系統連接,其中,所述色散系統采用背靠背雙光柵掃描設計,還包括雙濾光片和雙PMT設計,其傳動系統采用整渦輪盤設計。本發明提供的寬譜段高分辨電感耦合等離子體發射光譜儀,通過改進色散系統,在保證光譜分辨率的前提下,拓寬儀器的波長范圍,降低基體干擾,提高系統靈敏度,能夠實現多領域痕量及常量元素的分析。
本發明授權一種寬譜段高分辨電感耦合等離子體發射光譜儀在權利要求書中公布了:1.一種寬譜段高分辨電感耦合等離子體發射光譜儀,其特征在于,包括進樣系統1、激發光源2、色散系統3、控制與檢測系統4和數據處理系統5,所述進樣系統1、激發光源2、色散系統3和數據處理系統5依次連接,所述控制與檢測系統4分別與進樣系統1、激發光源2和數據處理系統5連接;所述進樣系統1用于將待測樣品霧化并帶入電感耦合等離子體中心通道;所述激發光源2為射頻功率發生器,為光譜儀產生電感耦合等離子體的射頻激發功率,用于激發待測樣品產生發射光譜;所述色散系統3采用掃描式背靠背雙光柵光譜儀,用于對待測樣品在電感耦合等離子體中被激發所產生的發射光譜進行收集、傳輸、分光、檢測;所述數據處理系統5用于對所述色散系統3輸出的光譜信息進行數據處理;所述控制與檢測系統4用于控制光譜儀各部件之間的工作時序及各部件之間的數據交換;其中,所述色散系統3包括光室及組件301、傳動系統302及光電探測器304,所述光室及組件301包括光室31以及設置在光室31內的雙狹縫組件、光柵組件36、雙反射鏡組件,所述雙狹縫組件包括入射狹縫組件33和出射狹縫組件35,分別設置在光室31的進光口和出光口,所述入射狹縫組件33包括前置光路32及雙濾光片34;所述光柵組件36采用背靠背的雙光柵設計,背靠背的雙光柵為兩款不同參數的平面光柵,包括光柵A和光柵B,光柵A和光柵B的結構參數一致,但刻線密度不同;所述雙反射鏡組件包括第一球面反射鏡37和第二球面反射鏡38,所述第一球面反射鏡37用于將入射狹縫組件33傳入的光反射到光柵組件36,所述第二球面反射鏡38用于將光柵組件36發出的光反射到出射狹縫組件35;所述傳動系統302設置在所述光室31的底部,所述傳動系統302包括整盤渦輪盤50、渦輪軸51、渦輪蝸桿52、聯軸器53、傳動電機54,所述整盤渦輪盤50按照鋁塊外鑲嵌銅環的材料搭配設計,所述傳動電機54通過電機定位板固定在所述光室31的底部,所述傳動電機54通過所述聯軸器53連接所述渦輪蝸桿52,所述渦輪蝸桿52帶動整盤渦輪盤50及渦輪軸51轉動,所述渦輪軸51穿過所述光室31的底部與所述光柵組件36連接;所述出射狹縫組件35處設置所述光電探測器304,所述光電探測器304用于將所述出射狹縫組件35發出的發射光譜的光信號轉化為電信號,傳輸給所述數據處理系統5。
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