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龍圖騰網恭喜賽諾威盛科技(北京)股份有限公司申請的專利CT掃描系統誤差校正方法、裝置、設備和存儲介質獲國家發明授權專利權，本發明授權專利權由國家知識產權局授予，授權公告號為：CN119595674B 。

龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-05-30發布的發明授權授權公告中獲悉：該發明授權的專利申請號/專利號為：202510139186.7，技術領域涉及：G01N23/046；該發明授權CT掃描系統誤差校正方法、裝置、設備和存儲介質是由袁曉慶;梁健;王秀清設計研發完成，并于2025-02-08向國家知識產權局提交的專利申請。

本CT掃描系統誤差校正方法、裝置、設備和存儲介質在說明書摘要公布了：本公開實施例提供的CT掃描系統誤差校正方法、裝置、設備和介質，包括：確定目標模體在不同旋轉角度下基于多能X射線的第一衰減數據；確定在不同旋轉角度下X射線經過目標模體的測量衰減路徑；根據測量衰減路徑和在單能X射線下衰減數據與衰減路徑之間的轉換因子，確定在不同旋轉角度下單能X射線經過目標模體的第二衰減數據；根據第一衰減數據和第二衰減數據，確定在目標測量衰減路徑下的第一目標衰減數據和第二目標衰減數據；根據在目標測量衰減路徑下的第一目標衰減數據和第二目標衰減數據，確定在不同目標測量衰減路徑下單能X射線衰減數據與多能X射線衰減數據之間的映射函數。實現射束硬化校正的同時，也實現了探測器響應一致性校正。

本發明授權CT掃描系統誤差校正方法、裝置、設備和存儲介質在權利要求書中公布了：1.一種CT掃描系統誤差校正方法，其特征在于，包括：確定目標模體在不同旋轉角度下基于多能X射線的第一衰減數據，其中，所述目標模體包括第一模體和第二模體，所述第一模體和所述第二模體的中心與旋轉中心不重疊；計算在不同旋轉角度下X射線經過所述第一模體的第一衰減路徑和經過所述第二模體的第二衰減路徑，并根據所述第一衰減路徑和所述第二衰減路徑，確定在不同旋轉角度下X射線經過所述目標模體的測量衰減路徑；根據所述測量衰減路徑和在單能X射線下衰減數據與衰減路徑之間的轉換因子，確定在不同旋轉角度下單能X射線經過所述目標模體的第二衰減數據，其中，所述轉換因子為衰減系數；根據所述第一衰減數據和所述第二衰減數據，確定在目標測量衰減路徑下的第一目標衰減數據和第二目標衰減數據；根據在目標測量衰減路徑下的第一目標衰減數據和第二目標衰減數據，確定在不同目標測量衰減路徑下單能X射線衰減數據與多能X射線衰減數據之間的映射函數。

如需購買、轉讓、實施、許可或投資類似專利技術，可聯系本專利的申請人或專利權人賽諾威盛科技(北京)股份有限公司，其通訊地址為：100176 北京市大興區經濟技術開發區康定街11號8幢1層；或者聯系龍圖騰網官方客服，聯系龍圖騰網可撥打電話0551-65771310或微信搜索“龍圖騰網”。