買專利賣專利找龍圖騰，真高效！ 查專利查商標用IPTOP,全免費！專利年費監控用IP管家,真方便！

龍圖騰網恭喜杭州廣立測試設備有限公司申請的專利晶圓的差異化測試方法、系統、電子設備和存儲介質獲國家發明授權專利權，本發明授權專利權由國家知識產權局授予，授權公告號為：CN119936609B 。

龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-07-04發布的發明授權授權公告中獲悉：該發明授權的專利申請號/專利號為：202510406577.0，技術領域涉及：G01R31/26；該發明授權晶圓的差異化測試方法、系統、電子設備和存儲介質是由汪立夫;李成霞;李賽飛;安亞寧設計研發完成，并于2025-04-02向國家知識產權局提交的專利申請。

本晶圓的差異化測試方法、系統、電子設備和存儲介質在說明書摘要公布了：本發明提供了一種晶圓的差異化測試方法、系統、電子設備和存儲介質。其中，該方法包括：基于同批次晶圓的測試需求和需測試裸片的坐標信息，將每個需測試裸片的坐標信息分配至至少一個裸片集合中；對每個裸片集合設置電性方案形成至少一個測試集合；基于至少一個裸片集合及其對應的至少一個測試集合進行組合，生成至少一個測試方案集合；獲取同批次晶圓的晶圓，基于至少一個測試方案集合確定每個晶圓的測試內容；基于測試內容對同批次晶圓進行差異化測試。該方式中，可以每個批次的晶圓和或每個晶圓的裸片進行差異化測試，滿足FAB的定制化的測試方案需求，縮短晶圓級電性測試測試晶圓的時間，從而提高FAB的晶圓出貨效率。

本發明授權晶圓的差異化測試方法、系統、電子設備和存儲介質在權利要求書中公布了：1.一種晶圓的差異化測試方法，其特征在于，所述方法包括： 基于同批次晶圓的測試需求和需測試裸片的坐標信息，將每個需測試裸片的坐標信息分配至至少一個裸片集合中；對每個所述裸片集合設置電性方案形成至少一個測試集合； 基于所述至少一個裸片集合及其對應的所述至少一個測試集合進行組合，生成至少一個測試方案集合； 獲取所述同批次晶圓的晶圓，基于所述至少一個測試方案集合確定每個晶圓的測試內容；基于所述測試內容對所述同批次晶圓進行差異化測試； 對每個所述裸片集合設置電性方案形成至少一個測試集合，包括：對每個所述裸片集合設置至少一個測試對象；根據所述至少一個測試對象進行組合生成至少一個測試集合，并對測試對象設置至少一個電性方案； 所述基于所述至少一個裸片集合及其對應的所述至少一個測試集合進行組合，包括：將至少一個測試集合進行分類和合并，并對每個測試集合匹配裸片集合和所需測試的坐標信息，得到至少一個測試方案集合，每個測試方案集合包含完全相同部分相同完全不同的測試集合、測試對象和裸片集合。

如需購買、轉讓、實施、許可或投資類似專利技術，可聯系本專利的申請人或專利權人杭州廣立測試設備有限公司，其通訊地址為：310012 浙江省杭州市西湖區西斗門路3號天堂軟件園A幢1樓1106室；或者聯系龍圖騰網官方客服，聯系龍圖騰網可撥打電話0551-65771310或微信搜索“龍圖騰網”。