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恭喜武漢大學陳志文獲國家專利權

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龍圖騰網恭喜武漢大學申請的專利一種封裝模塊翹曲變形及缺陷的三維在線監測方法及裝置獲國家發明授權專利權,本發明授權專利權由國家知識產權局授予,授權公告號為:CN110645904B

龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-07-04發布的發明授權授權公告中獲悉:該發明授權的專利申請號/專利號為:201910986034.5,技術領域涉及:G01B11/16;該發明授權一種封裝模塊翹曲變形及缺陷的三維在線監測方法及裝置是由陳志文;劉勝;王力成設計研發完成,并于2019-10-17向國家知識產權局提交的專利申請。

一種封裝模塊翹曲變形及缺陷的三維在線監測方法及裝置在說明書摘要公布了:本發明屬于封裝模塊監測技術領域,公開了一種封裝模塊翹曲變形及缺陷的三維在線監測方法及裝置,裝置包括投影云紋模塊、X射線模塊、監測分析模塊;方法包括:通過投影云紋模塊獲得待測封裝模塊樣品的第一翹曲信息;通過X射線模塊獲得待測封裝模塊樣品的第二翹曲信息;根據第一翹曲信息、第二翹曲信息獲得監測結果信息。本發明解決了現有技術中無法對封裝模塊的翹曲變形及缺陷進行三維在線監測的問題,能夠對實際工業生產過程中的電子器件的封裝模塊的失效情況進行三維在線監測。

本發明授權一種封裝模塊翹曲變形及缺陷的三維在線監測方法及裝置在權利要求書中公布了:1.一種封裝模塊翹曲變形及缺陷的三維在線監測裝置,其特征在于,包括:投影云紋模塊、X射線模塊和監測分析模塊; 所述監測分析模塊分別與所述投影云紋模塊、所述X射線模塊相連; 所述投影云紋模塊包括:CCD相機和光柵投影儀;所述光柵投影儀用于投射光柵至待測封裝模塊樣品表面;所述CCD相機用于對所述待測封裝模塊樣品表面的光柵變化進行連續拍攝采集,獲得待測封裝模塊樣品的第一翹曲信息; 所述X射線模塊包括:X射線管和X射線探測器;所述X射線管用于發射X射線至待測封裝模塊樣品;所述X射線探測器用于接收待測封裝模塊樣品經照射后的X射線強度數據,獲得待測封裝模塊樣品的第二翹曲信息; 所述監測分析模塊用于根據所述第一翹曲信息和所述第二翹曲信息獲得監測結果信息。

如需購買、轉讓、實施、許可或投資類似專利技術,可聯系本專利的申請人或專利權人武漢大學,其通訊地址為:430072 湖北省武漢市武昌區珞珈山武漢大學;或者聯系龍圖騰網官方客服,聯系龍圖騰網可撥打電話0551-65771310或微信搜索“龍圖騰網”。

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