恭喜長春理工大學田立國獲國家專利權
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龍圖騰網恭喜長春理工大學申請的專利一種自適應調節的飛秒激光精密加工系統及方法獲國家發明授權專利權,本發明授權專利權由國家知識產權局授予,授權公告號為:CN119457403B 。
龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-05-16發布的發明授權授權公告中獲悉:該發明授權的專利申請號/專利號為:202411614509.5,技術領域涉及:B23K26/00;該發明授權一種自適應調節的飛秒激光精密加工系統及方法是由田立國;伊磊;趙震設計研發完成,并于2024-11-13向國家知識產權局提交的專利申請。
本一種自適應調節的飛秒激光精密加工系統及方法在說明書摘要公布了:本發明公開一種自適應調節的飛秒激光精密加工系統及方法,涉及激光應用技術領域,包括:中央控制機構、飛秒激光器、光學調整機構、自適應控制機構、樣品位移機構及CCD監控機構。本發明的技術方案利用飛秒激光器發射的光束,經光學調整機構進行光束調整和準直,采用自適應控制方法調節激光器的參數,利用微位移樣品臺實現復雜結構的微納制造,并通過顯微鏡觀測制備結果。本發明系統光路簡單,采用自動調節激光器的焦點,解決現有飛秒激光對焦調節繁瑣操作的技術問題。
本發明授權一種自適應調節的飛秒激光精密加工系統及方法在權利要求書中公布了:1.一種自適應調節的飛秒激光精密加工系統,其特征在于,包括:中央控制機構;飛秒激光器,與所述中央控制機構的激光器調節單元連通,用于執行飛秒激光器參數調節并發射激光光束;光學調整機構,用于飛秒激光器發射的激光光束的調整和準直;自適應控制機構,用于測量激光到樣品之間的距離,并將數據傳輸至中央控制機構;樣品位移機構,所述樣品位移機構位于所述光學調整機構的下側,用于執行中央控制機構的位移參數指令,調節樣品位置;CCD監控機構,所述CCD監控機構與中央控制機構連通,用于監控系統激光微納制造的圖形;所述自適應控制機構的計算方法為:計算調整空間距離ΔSk=∑Ka*Sk-1+∑Kb*Sck,其中,Ka,Kb為自適應控制系數,Sk-1為測量坐標下的位置,Sck為基礎坐標下的位置;中央控制機構1將調整空間距離ΔS解耦分解:設空間距離對調整空間距離ΔSk=∑Ka*Sk-1+∑Kb*Sck進行分析,當ΔS較小時,可以認為: 得將解耦結果發送至樣品位移機構,用于執行ΔSx,ΔSy,ΔSz位移參數調節指令。
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