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龍圖騰網獲悉圣邦微電子(北京)股份有限公司申請的專利一種多環境的批量芯片測試方法獲國家發明授權專利權，本發明授權專利權由國家知識產權局授予，授權公告號為：CN114441927B 。

龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-07-04發布的發明授權授權公告中獲悉：該發明授權的專利申請號/專利號為：202011205199.3，技術領域涉及：G01R31/28；該發明授權一種多環境的批量芯片測試方法是由王歡;于翔;謝程益設計研發完成，并于2020-11-02向國家知識產權局提交的專利申請。

本一種多環境的批量芯片測試方法在說明書摘要公布了：本公開涉及一種多環境的批量芯片測試方法。所述方法包括步驟1，基于第一測試環境對批量芯片進行一次測試，根據一次測試結果獲取批量芯片的分檔信息；步驟2，根據所述分檔信息將批量芯片進行分檔，將所述批量芯片分為第一檔芯片至第N檔芯片；步驟3，選擇N檔芯片中的任意一檔，基于第二測試環境對該檔芯片進行二次測試，根據二次測試結果獲取該檔芯片的修調目標，直至獲取所述批量芯片中每一芯片的修調目標。基于本公開中所述方法，能夠為芯片提供不同檔位的修調目標，并能夠實現高精度芯片的批量生產。

本發明授權一種多環境的批量芯片測試方法在權利要求書中公布了：1.一種多環境的批量芯片測試方法，其特征在于，包括以下步驟： 步驟1，基于第一測試環境對批量芯片進行一次測試，根據一次測試結果獲取批量芯片的分檔信息； 步驟2，根據所述分檔信息將批量芯片進行分檔，將所述批量芯片分為第一檔芯片至第N檔芯片； 步驟3，選擇N檔芯片中的任意一檔，基于第二測試環境對該檔芯片進行二次測試，根據二次測試結果獲取該檔芯片的修調目標，直至獲取所述批量芯片中每一芯片的修調目標； 所述步驟3還包括： 步驟3.1，根據該檔芯片中每一芯片的分檔信息和預期屬性值，獲得所述每一芯片的修調目標； 步驟3.2，比較所述二次測試結果和所述修調目標獲得該檔芯片中每一芯片的修調值； 所述第一測試環境為第一測試溫度T1，所述一次測試結果為第一測試溫度T1下芯片的輸出電壓V1； 所述批量芯片的分檔信息為根據第一測試溫度T1下芯片的輸出電壓V1獲取的所述芯片所在檔位的最大標準檔位值與最小標準檔位值的平均值； 所述第二測試環境為第二測試溫度T2，所述二次測試結果為第二測試溫度T2下芯片的輸出電壓V2； 所述每一芯片的修調目標為k*T2-T1+an+an+12； 其中，n為芯片的所在檔位，k為芯片所在檔位對應的預期屬性值，an為芯片的所在檔位的最小標準檔位值，an+1為芯片的所在檔位的最大標準檔位值。

如需購買、轉讓、實施、許可或投資類似專利技術，可聯系本專利的申請人或專利權人圣邦微電子(北京)股份有限公司，其通訊地址為：100089 北京市海淀區西三環北路87號13層3-1301；或者聯系龍圖騰網官方客服，聯系龍圖騰網可撥打電話0551-65771310或微信搜索“龍圖騰網”。