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恭喜河鋼數字技術股份有限公司;雄安威賽博智能科技有限公司;河北沃享信息技術有限公司葛春紅獲國家專利權

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龍圖騰網恭喜河鋼數字技術股份有限公司;雄安威賽博智能科技有限公司;河北沃享信息技術有限公司申請的專利涂層缺陷檢測方法、電子設備及存儲介質獲國家發明授權專利權,本發明授權專利權由國家知識產權局授予,授權公告號為:CN119666869B

龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-06-03發布的發明授權授權公告中獲悉:該發明授權的專利申請號/專利號為:202510179980.4,技術領域涉及:G01N21/91;該發明授權涂層缺陷檢測方法、電子設備及存儲介質是由葛春紅;郝亮;明勇杰;張帥;張叢燦;儲紫薇;韓汝珩;邢政設計研發完成,并于2025-02-19向國家知識產權局提交的專利申請。

涂層缺陷檢測方法、電子設備及存儲介質在說明書摘要公布了:本發明提供一種涂層缺陷檢測方法、電子設備及存儲介質。該方法包括:將熒光粉末均勻混合于涂層粉末中,并將混合后的混合粉末熔覆于基體表面,形成待測涂層;對待測涂層進行逐點探測,得到待測涂層上每一探測點位對應的實測熒光光譜;根據各探測點位對應的實測熒光光譜和預設的標準熒光光譜,判斷各探測點位是否為缺陷點位,以及缺陷點位的缺陷類型;若缺陷類型為表觀質量缺陷,則確定缺陷點位對應的涂層質量缺失值,并基于涂層質量缺失值對缺陷點位進行修復。本發明能夠提升涂層表面缺陷的檢測效率和檢測精度。

本發明授權涂層缺陷檢測方法、電子設備及存儲介質在權利要求書中公布了:1.一種涂層缺陷檢測方法,其特征在于,包括:將熒光粉末均勻混合于涂層粉末中,并將混合后的混合粉末熔覆于基體表面,形成待測涂層;對所述待測涂層進行逐點探測,得到所述待測涂層上每一探測點位對應的實測熒光光譜;根據各探測點位對應的實測熒光光譜和預設的標準熒光光譜,分別檢測所述實測熒光光譜中的實測熒光發射波長,與所述標準熒光光譜中的標準熒光發射波長是否一致,以及所述實測熒光光譜中的實測熒光波峰位置,與所述標準熒光光譜中的標準熒光波峰位置是否一致;若所述實測熒光發射波長與所述標準熒光發射波長不一致,則確定所述探測點位為缺陷點位,且缺陷點位的缺陷類型為表觀質量缺陷;若所述實測熒光波峰位置與所述標準熒光波峰位置不一致,則確定所述探測點位為缺陷點位,且缺陷點位的缺陷類型為表觀雜質缺陷;若所述實測熒光發射波長與所述標準熒光發射波長一致,且所述實測熒光波峰位置與所述標準熒光波峰位置一致,則確定所述探測點位為正常點位;若所述缺陷類型為表觀質量缺陷,則確定所述缺陷點位對應的涂層質量缺失值,并基于所述涂層質量缺失值對所述缺陷點位進行修復。

如需購買、轉讓、實施、許可或投資類似專利技術,可聯系本專利的申請人或專利權人河鋼數字技術股份有限公司;雄安威賽博智能科技有限公司;河北沃享信息技術有限公司,其通訊地址為:050000 河北省石家莊市高新區中山東路856號科技創新服務中心1號樓;或者聯系龍圖騰網官方客服,聯系龍圖騰網可撥打電話0551-65771310或微信搜索“龍圖騰網”。

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