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龍圖騰網恭喜華南師范大學申請的專利根據熒光探針自動E-FRET成像的多通道熒光顯微成像控制系統獲國家發明授權專利權，本發明授權專利權由國家知識產權局授予，授權公告號為：CN119470381B 。

龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-05-30發布的發明授權授權公告中獲悉：該發明授權的專利申請號/專利號為：202510059825.9，技術領域涉及：G01N21/64；該發明授權根據熒光探針自動E-FRET成像的多通道熒光顯微成像控制系統是由莊正飛;王健;王正印;胡敏;陳同生設計研發完成，并于2025-01-15向國家知識產權局提交的專利申請。

本根據熒光探針自動E-FRET成像的多通道熒光顯微成像控制系統在說明書摘要公布了：本發明涉及一種根據熒光探針自動E?FRET成像的多通道熒光顯微成像控制系統，其應用于多通道熒光顯微成像系統，其通過錄入成像系統、熒光探針的相關信息，根據熒光探針和成像系統的光學特性進行自動成像匹配，并將能夠成像的熒光探針兩兩組合成供體?受體對然后進行初步FRET成像篩選，對于初步篩選出的供體?受體對，由用戶提供樣本進行成像實驗，并以此進行FRET效應判斷和E?FRET參數校正，對確定能夠發生FRET效應的供體?受體對，自動生成對應的E?FRET拍攝流程并保存；當用戶選擇已保存的供體?受體對并提供實驗樣本進行實驗時，控制成像系統執行與供體?受體對對應的E?FRET拍攝流程對實驗樣本進行成像實驗，并利用E?FRET參數校正的結果計算E?FRET結果。

本發明授權根據熒光探針自動E-FRET成像的多通道熒光顯微成像控制系統在權利要求書中公布了：1.一種根據熒光探針自動E-FRET成像的多通道熒光顯微成像控制系統，其應用于多通道熒光顯微成像系統，其特征在于，包括：系統參數錄入軟件模塊：確定用于與所述成像系統內各電動控件建立連接所需的相關信息并錄入所述成像系統中各光學元件的光學特性參數；熒光探針信息錄入軟件模塊：錄入所述熒光探針的光學特性參數；成像匹配軟件模塊：根據所述熒光探針和所述成像系統的光學特性進行自動成像匹配，并保存所述熒光探針的成像設置；初步FRET成像篩選軟件模塊：對于能夠成像的所述熒光探針，兩兩組合成供體-受體對然后進行初步FRET成像篩選；FRET效應判斷和E-FRET參數校正軟件模塊：對于初步篩選出的供體-受體對，生成標準E-FRET成像設置，然后按照所述標準E-FRET成像設置控制所述成像系統對用戶提供的標準樣本分別進行成像實驗，并以此進行FRET效應判斷和E-FRET參數校正，對確定能夠發生FRET效應的供體-受體對，自動生成對應的E-FRET拍攝流程并保存；所述標準樣本包括單轉供體樣本、單轉受體樣本和同時包含供體和受體的樣本；E-FRET成像執行軟件模塊：當用戶選擇已保存的供體-受體對并提供實驗樣本進行實驗時，控制所述成像系統執行與所述供體-受體對對應的E-FRET拍攝流程對所述實驗樣本進行成像實驗，并利用E-FRET參數校正的結果計算E-FRET結果；進行初步FRET成像篩選的方式如下：1根據所述熒光探針吸收光譜的歸一化光譜特性ABnλn,ab，計算其吸收光譜的總面積根據其發射光譜的歸一化光譜特性EMnλn,em，以及所述成像設置中記載的探測通道的波長通帶λm,BP,DC，計算其發射光譜的總面積和能夠探測到的波段占發射光譜的總面積2若供體-受體對滿足以下兩個條件，即認為該對熒光探針為可能的FRET對：①對于供體與受體，均需滿足能夠探測到的波段占發射光譜的總面積與完整發射光譜總面積的比大于等于閾值TH3，即 閾值TH3根據經驗設定，用于確保熒光探針的發射光能被成像系統檢測到，即界定熒光探針在成像系統中能否被照亮；②對于受體，需滿足其吸收光譜與供體發射光譜的重疊部分的面積與供體發射光譜總面積的比值，以及其吸收光譜與供體發射光譜的重疊部分的面積與受體吸收光譜的總面積的比值，均大于等于閾值TH4，即 閾值TH4取0.3。

如需購買、轉讓、實施、許可或投資類似專利技術，可聯系本專利的申請人或專利權人華南師范大學，其通訊地址為：510006 廣東省廣州市天河區石牌中山大道西55號；或者聯系龍圖騰網官方客服，聯系龍圖騰網可撥打電話0551-65771310或微信搜索“龍圖騰網”。