恭喜克洛納測量技術有限公司T.弗里奇獲國家專利權
買專利賣專利找龍圖騰,真高效! 查專利查商標用IPTOP,全免費!專利年費監控用IP管家,真方便!
龍圖騰網恭喜克洛納測量技術有限公司申請的專利光譜儀和用于借助于光譜儀來分析光樣本的方法獲國家發明授權專利權,本發明授權專利權由國家知識產權局授予,授權公告號為:CN110987180B 。
龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-06-24發布的發明授權授權公告中獲悉:該發明授權的專利申請號/專利號為:201910949685.7,技術領域涉及:G01J3/28;該發明授權光譜儀和用于借助于光譜儀來分析光樣本的方法是由T.弗里奇設計研發完成,并于2019-10-08向國家知識產權局提交的專利申請。
本光譜儀和用于借助于光譜儀來分析光樣本的方法在說明書摘要公布了:描述并示出了光譜儀(1),其包括至少一個光耦入元件(3)、能夠變化的入口狹縫(4)、色散元件(6)、探測器元件(7)和控制和測評單元(8)。本任務提出了一種具有改進的測量特性的光譜儀,并且該任務通過以下方式得以解決,所述能夠變化的入口狹縫(4)由包括多個像素的第一空間調制元件實現,其中,各個像素能夠通過控制和測評單元彼此獨立地定向,其中各個像素為了實現所述入口狹縫在運行中如此定向,使得從所述光耦入元件(3)入射的光的至少一部分被傳導到所述色散元件(6)上。
本發明授權光譜儀和用于借助于光譜儀來分析光樣本的方法在權利要求書中公布了:1.借助于光譜儀1分析光樣本的方法2,其中所述光譜儀1具有至少一個光耦入元件3、能夠變化的入口狹縫4、色散元件6、探測器元件7和控制和測評單元8, 其特征在于, 所述光耦入元件3被設計為由線性布置的光波導組成的光波導束, 所述能夠變化的入口狹縫4由包括多個像素的第一空間調制元件實現,其中,各個像素能夠通過所述控制和測評單元彼此獨立地定向,其中各個像素為了實現所述入口狹縫而在運行中如此定向,使得從所述光耦入元件3入射的光的至少一部分被傳導到所述色散元件6上, 所述入口狹縫的寬度根據測量之前和或測量期間的測量情況而變化, 所述第一空間調制器的像素如此定向,從而校正各個光波導與線性的布置的偏差, 待分析的光樣本被所述色散元件6分解成其光譜分量, 將光樣本的光譜分量成像到所述探測器元件7上,并且 所述控制和測評單元8確定出所述光樣本的光譜。
如需購買、轉讓、實施、許可或投資類似專利技術,可聯系本專利的申請人或專利權人克洛納測量技術有限公司,其通訊地址為:德國杜伊斯堡;或者聯系龍圖騰網官方客服,聯系龍圖騰網可撥打電話0551-65771310或微信搜索“龍圖騰網”。
1、本報告根據公開、合法渠道獲得相關數據和信息,力求客觀、公正,但并不保證數據的最終完整性和準確性。
2、報告中的分析和結論僅反映本公司于發布本報告當日的職業理解,僅供參考使用,不能作為本公司承擔任何法律責任的依據或者憑證。