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龍圖騰網(wǎng)恭喜長鑫存儲技術(shù)有限公司申請的專利失效圖形的獲取方法和獲取裝置獲國家發(fā)明授權(quán)專利權(quán)，本發(fā)明授權(quán)專利權(quán)由國家知識產(chǎn)權(quán)局授予，授權(quán)公告號為：CN114004778B 。

龍圖騰網(wǎng)通過國家知識產(chǎn)權(quán)局官網(wǎng)在2025-05-13發(fā)布的發(fā)明授權(quán)授權(quán)公告中獲悉：該發(fā)明授權(quán)的專利申請?zhí)?專利號為：202010730179.1，技術(shù)領(lǐng)域涉及：G06T7/00；該發(fā)明授權(quán)失效圖形的獲取方法和獲取裝置是由林家圣設(shè)計研發(fā)完成，并于2020-07-27向國家知識產(chǎn)權(quán)局提交的專利申請。

本失效圖形的獲取方法和獲取裝置在說明書摘要公布了：一種失效圖形的獲取方法和獲取裝置，其中失效圖形的獲取方法，包括：包括：獲得一晶圓內(nèi)的芯片測試結(jié)果圖像，所述芯片測試結(jié)果圖像中標記有若干失效測試點；計算所有失效測試點間每兩點的向量；將具有相同向量的若干失效測試點定為同一群體；從每一個群體中分出若干種待定失效圖形；基于所述若干種待定失效圖形獲得失效圖形。通過前述步驟可以準確和快速的獲得失效圖形，所述失效圖形用于判斷測試機臺是否存在問題，如果獲得了失效圖形，則可判斷所述測試機臺的測試環(huán)境存在問題，從而測試人員可以對測試機臺的測試環(huán)境比如對測試程序進行修改進行調(diào)整，從而防止測試機臺誤檢測的發(fā)生，提高電學測試的準確性。

本發(fā)明授權(quán)失效圖形的獲取方法和獲取裝置在權(quán)利要求書中公布了：1.一種失效圖形的獲取方法，其特征在于，包括：獲得一晶圓內(nèi)的芯片測試結(jié)果圖像，所述芯片測試結(jié)果圖像中標記有若干失效測試點；所述晶圓內(nèi)具有若干芯片，每一個所述芯片具有若干內(nèi)存地址，一個所述芯片對應(yīng)具有一個芯片測試結(jié)果圖像；所述芯片測試結(jié)果圖像獲得過程為：對芯片中的每一個內(nèi)存地址進行電學性能測試，獲得若干電學測試結(jié)果；將若干電學測試結(jié)果根據(jù)內(nèi)存地址排布獲得的行列排布圖像，前述獲得的圖像為芯片測試結(jié)果圖像，所述芯片測試結(jié)果圖像中的一個所述失效測試點對應(yīng)一個內(nèi)存地址；計算所有失效測試點間每兩點的向量；將具有相同向量的若干失效測試點定為同一群體；從每一個群體中分出若干種待定失效圖形；基于所述若干種待定失效圖形獲得失效圖形。

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