買專利賣專利找龍圖騰，真高效！ 查專利查商標(biāo)用IPTOP,全免費(fèi)！專利年費(fèi)監(jiān)控用IP管家,真方便！

龍圖騰網(wǎng)恭喜安盈半導(dǎo)體技術(shù)(常州)有限公司申請的專利一種基于溫度響應(yīng)的芯片測試方法及測試系統(tǒng)獲國家發(fā)明授權(quán)專利權(quán)，本發(fā)明授權(quán)專利權(quán)由國家知識(shí)產(chǎn)權(quán)局授予，授權(quán)公告號(hào)為：CN119471327B 。

龍圖騰網(wǎng)通過國家知識(shí)產(chǎn)權(quán)局官網(wǎng)在2025-03-25發(fā)布的發(fā)明授權(quán)授權(quán)公告中獲悉：該發(fā)明授權(quán)的專利申請?zhí)?專利號(hào)為：202510052302.1，技術(shù)領(lǐng)域涉及：G01R31/28；該發(fā)明授權(quán)一種基于溫度響應(yīng)的芯片測試方法及測試系統(tǒng)是由薛冰設(shè)計(jì)研發(fā)完成，并于2025-01-14向國家知識(shí)產(chǎn)權(quán)局提交的專利申請。

本一種基于溫度響應(yīng)的芯片測試方法及測試系統(tǒng)在說明書摘要公布了：本申請公開了一種基于溫度響應(yīng)的芯片測試方法及測試系統(tǒng)，屬于芯片測試技術(shù)領(lǐng)域，包括：建立可控溫區(qū)環(huán)境，產(chǎn)生第一溫度區(qū)間，并設(shè)置至少兩個(gè)溫度變化速率；接收來自芯片測試過程中采集到的第一采集數(shù)據(jù)，對第一采集數(shù)據(jù)進(jìn)行分析；在芯片測試過程中，進(jìn)行局部溫差控制，并記錄梯度溫度分布情況；結(jié)合第一采集數(shù)據(jù)的分析結(jié)果，與局部溫差控制過程中記錄到的梯度溫差分布情況進(jìn)行耦合，對芯片進(jìn)行動(dòng)態(tài)溫度響應(yīng)分析。在本申請的技術(shù)方案實(shí)施過程中，通過建立可控溫區(qū)環(huán)境及局部溫差控制，模擬芯片的使用場景，并考慮芯片在集成電路中的布局進(jìn)行溫度響應(yīng)測試，優(yōu)化芯片的設(shè)計(jì)以及布局，提高芯片的運(yùn)行穩(wěn)定性。

本發(fā)明授權(quán)一種基于溫度響應(yīng)的芯片測試方法及測試系統(tǒng)在權(quán)利要求書中公布了：1.一種基于溫度響應(yīng)的芯片測試方法，其特征在于：包括：建立可控溫區(qū)環(huán)境，產(chǎn)生第一溫度區(qū)間，并設(shè)置至少兩個(gè)溫度變化速率，在第一溫度區(qū)間內(nèi)，根據(jù)所設(shè)置的溫度變化速率對芯片進(jìn)行測試數(shù)據(jù)采集；接收來自芯片測試過程中采集到的第一采集數(shù)據(jù)，對第一采集數(shù)據(jù)進(jìn)行分析，并根據(jù)不同的溫度變化速率對芯片進(jìn)行溫度響應(yīng)分析；在芯片測試過程中，進(jìn)行局部溫差控制，并記錄梯度溫度分布情況；結(jié)合第一采集數(shù)據(jù)的分析結(jié)果，與局部溫差控制過程中記錄到的梯度溫差分布情況進(jìn)行耦合，對芯片進(jìn)行動(dòng)態(tài)溫度響應(yīng)分析；對芯片的動(dòng)態(tài)溫度響應(yīng)分析結(jié)果進(jìn)行時(shí)間序列分析與數(shù)據(jù)挖掘，獲取芯片在不同環(huán)境下的變化趨勢；所述第一采集數(shù)據(jù)包括芯片在各個(gè)溫度變化速率下的負(fù)載狀態(tài)以及功耗，其中，負(fù)載狀態(tài)為芯片的時(shí)鐘頻率，功耗數(shù)據(jù)反映了芯片在不同溫度下的能量消耗情況；根據(jù)不同的溫度變化速率對芯片進(jìn)行溫度響應(yīng)分析進(jìn)一步包括以下步驟：確定芯片在不同溫度變化速率下的性能拐點(diǎn)，該性能拐點(diǎn)表示芯片在單位功耗下的時(shí)鐘頻率變化率最大；根據(jù)性能拐點(diǎn)，評估芯片在不同溫度變化速率下的性能穩(wěn)定性，從而判斷芯片是否能在實(shí)際應(yīng)用中保持穩(wěn)定運(yùn)行；重復(fù)對芯片進(jìn)行性能穩(wěn)定性的測試步驟，對芯片進(jìn)行循環(huán)測試，并收集和分析多次測試數(shù)據(jù)，以獲取更為精確的性能拐點(diǎn)數(shù)據(jù)；性能拐點(diǎn)的獲取方法為：獲取芯片在各個(gè)溫度變化速率下的時(shí)鐘頻率和功耗數(shù)據(jù)，并按照功耗變化情況計(jì)算單位功耗下的時(shí)鐘頻率變化率，然后將不同功耗變化過程中的芯片時(shí)鐘頻率變化按照相同的方法計(jì)算，得到的結(jié)果中，最大值所在時(shí)鐘頻率即為芯片的性能拐點(diǎn)。

如需購買、轉(zhuǎn)讓、實(shí)施、許可或投資類似專利技術(shù)，可聯(lián)系本專利的申請人或?qū)＠麢?quán)人安盈半導(dǎo)體技術(shù)(常州)有限公司，其通訊地址為：213000 江蘇省常州市新北區(qū)華山中路9號(hào)五號(hào)樓118；或者聯(lián)系龍圖騰網(wǎng)官方客服，聯(lián)系龍圖騰網(wǎng)可撥打電話0551-65771310或微信搜索“龍圖騰網(wǎng)”。