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龍圖騰網恭喜蒂阿馬公司申請的專利用于測量玻璃容器的壁厚的設備和方法獲國家發明授權專利權，本發明授權專利權由國家知識產權局授予，授權公告號為：CN114375383B 。

龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-06-17發布的發明授權授權公告中獲悉：該發明授權的專利申請號/專利號為：202080064544.8，技術領域涉及：G01B21/08；該發明授權用于測量玻璃容器的壁厚的設備和方法是由M·勒孔特;P-Y·索蘭設計研發完成，并于2020-07-10向國家知識產權局提交的專利申請。

本用于測量玻璃容器的壁厚的設備和方法在說明書摘要公布了：本發明涉及一種用于測量玻璃容器的厚度的方法，包括以下步驟：?選擇從容器的彼此徑向相對的第一側和第二側測量容器發出的輻射；?選擇測量容器發出的2800納米到4000納米范圍內的第一光譜波段中的輻射和第二光譜波段中的輻射；?同時從容器的每一側測量來自壁的第一光譜波段和第二光譜波段中的輻射的強度；以及?根據來自第一壁的在第一光譜波段和第二光譜波段中的輻射的強度的測量結果和來自第二壁的第一光譜波段和第二光譜波段中的輻射的強度的測量結果，至少確定第一壁和第二壁22的厚度。

本發明授權用于測量玻璃容器的壁厚的設備和方法在權利要求書中公布了：1.一種用于測量離開成形腔并沿平移路徑F移動的高溫玻璃的容器2的壁厚的方法，所述方法包括以下步驟： -從所述容器2的彼此徑向相對的第一側I和第二側II測量由每個容器2發出的輻射的強度，所述輻射由所述容器的沿所述第一側I定位的第一壁21和由所述容器的沿所述第二側II定位的徑向相對的第二壁22發出； -測量由所述容器2在第一光譜波段λ1中發出的輻射和在第二光譜波段λ2中發出的輻射，其中，所述第一光譜波段λ1在2800納米到4000納米范圍內，所述第一光譜波段和所述第二光譜波段是不同的并且被選擇為使得： ◆針對所述容器的溫度，所述容器的玻璃對輻射的吸收在所述第一光譜波段和所述第二光譜波段中是不同的；并且 ◆在所述第一光譜波段λ1中，所述容器的玻璃對輻射的吸收使得： *從所述容器的所述第一側I測得的來自所述第一壁21的輻射是由所述第一壁21發出的輻射與由所述第二壁22發出后有吸收地透射過所述第一壁21的輻射的第一總和，使得所述第一總和取決于所述第一壁21的厚度和溫度和所述第二壁22的厚度和溫度；并且 *從所述容器的所述第二側II測得的來自所述第二壁22的輻射是由所述第二壁22發出的輻射與由所述第一壁21發出后有吸收地透射過所述第二壁22的輻射的第二總和，使得所述第二總和取決于所述第一壁21的厚度和溫度和所述第二壁22的厚度和溫度； 其中，從所述容器的所述第一側I測量來自所述第一壁21的在所述第一光譜波段λ1和所述第二光譜波段λ2中的輻射的強度與從所述容器的所述第二側II測量來自所述第二壁22的在所述第一光譜波段λ1和所述第二光譜波段λ2中的輻射的強度是同時進行的；以及 -通過在所述第一光譜波段中的輻射的強度的所述第一總和和所述第二總和中考慮由一個壁在所述第一光譜波段λ1中發出的輻射以及來自與所述容器的徑向相對的另一個壁在所述第一光譜波段λ1中的，隨后有吸收地透射過所述一個壁的輻射，根據來自所述第一壁的在所述第一光譜波段和所述第二光譜波段中的輻射的強度的測量結果和來自所述第二壁的在所述第一光譜波段和所述第二光譜波段中的輻射的強度的測量結果，來至少確定所述容器的所述第一壁和所述第二壁22的厚度； 其中，確定所述容器的所述第一壁的厚度和所述第二壁22的厚度包括：當輻射透射過所述容器的壁時，考慮在所述第一光譜波段λ1中輻射的非零衰減，以區分所述第一壁21的厚度和所述第二壁22的厚度。

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