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龍圖騰網(wǎng)恭喜銳石創(chuàng)芯(深圳)半導(dǎo)體有限公司申請的專利芯片測試裝置、芯片測試系統(tǒng)及數(shù)據(jù)采集方法獲國家發(fā)明授權(quán)專利權(quán)，本發(fā)明授權(quán)專利權(quán)由國家知識產(chǎn)權(quán)局授予，授權(quán)公告號為：CN114325312B 。

龍圖騰網(wǎng)通過國家知識產(chǎn)權(quán)局官網(wǎng)在2025-05-30發(fā)布的發(fā)明授權(quán)授權(quán)公告中獲悉：該發(fā)明授權(quán)的專利申請?zhí)?專利號為：202111567455.8，技術(shù)領(lǐng)域涉及：G01R31/28；該發(fā)明授權(quán)芯片測試裝置、芯片測試系統(tǒng)及數(shù)據(jù)采集方法是由林楷輝;倪建興設(shè)計研發(fā)完成，并于2021-12-20向國家知識產(chǎn)權(quán)局提交的專利申請。

本芯片測試裝置、芯片測試系統(tǒng)及數(shù)據(jù)采集方法在說明書摘要公布了：本發(fā)明公開了一種芯片測試裝置包括網(wǎng)絡(luò)分析儀和觸發(fā)模塊，所述網(wǎng)絡(luò)分析儀、所述觸發(fā)模塊和待測試芯片電連接；所述網(wǎng)絡(luò)分析儀被配置為發(fā)送觸發(fā)指令至所述觸發(fā)模塊，以及對所述待測試芯片的狀態(tài)切換時間進(jìn)行采集；所述觸發(fā)模塊被配置為響應(yīng)所述觸發(fā)指令發(fā)送第一觸發(fā)信號至所述待測試芯片，其中，所述第一觸發(fā)信號為觸發(fā)所述待測試芯片進(jìn)行狀態(tài)切換的信號；通過網(wǎng)絡(luò)分析儀和觸發(fā)模塊的共同作用即可實現(xiàn)對待測試芯片的狀態(tài)切換時間進(jìn)行采集，而不需要額外搭建復(fù)雜的測試環(huán)境，從而不但提高了對芯片的狀態(tài)切換時間進(jìn)行采集時的效率，還降低了測試成本。

本發(fā)明授權(quán)芯片測試裝置、芯片測試系統(tǒng)及數(shù)據(jù)采集方法在權(quán)利要求書中公布了：1.一種芯片測試裝置，其特征在于，包括網(wǎng)絡(luò)分析儀和觸發(fā)模塊，所述網(wǎng)絡(luò)分析儀、所述觸發(fā)模塊和待測試芯片電連接；所述網(wǎng)絡(luò)分析儀被配置為發(fā)送觸發(fā)指令至所述觸發(fā)模塊，以及對所述待測試芯片的狀態(tài)切換時間進(jìn)行采集；所述觸發(fā)模塊被配置為響應(yīng)所述觸發(fā)指令發(fā)送第一觸發(fā)信號至所述待測試芯片，其中，所述第一觸發(fā)信號為觸發(fā)所述待測試芯片進(jìn)行狀態(tài)切換的信號；所述芯片測試裝置還包括Z個射頻開關(guān)模塊，每一所述射頻開關(guān)模塊包括一個第一切換端口和M個第二切換端口，每一所述射頻開關(guān)模塊的所述第一切換端口與所述網(wǎng)絡(luò)分析儀中的一個連接端口連接，每一所述第二切換端口耦合至所述待測試芯片中的一個測試端口，其中，Z為等于大于1的正整數(shù)，M為等于大于1的正整數(shù)；所述芯片測試裝置還包括N個隔離開關(guān)模塊，每一所述隔離開關(guān)模塊包括動端、第一不動端、第二不動端和阻抗匹配單元，每一所述隔離開關(guān)模塊的動端與所述待測試芯片中的一個測試端口連接，每一所述隔離開關(guān)模塊的第一不動端與所述射頻開關(guān)模塊中的一個第二切換端口連接，每一所述隔離開關(guān)模塊的第二不動端與所述阻抗匹配單元的第一端連接，所述阻抗匹配單元的第二端與接地端連接，其中，N為等于大于1的正整數(shù)。

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