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龍圖騰網恭喜深圳精智達技術股份有限公司申請的專利一種顯示屏重復缺陷檢測的方法、裝置及存儲介質獲國家發明授權專利權，本發明授權專利權由國家知識產權局授予，授權公告號為：CN119444754B 。

龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-05-30發布的發明授權授權公告中獲悉：該發明授權的專利申請號/專利號為：202510038254.0，技術領域涉及：G06T7/00；該發明授權一種顯示屏重復缺陷檢測的方法、裝置及存儲介質是由劉勇;楊碩設計研發完成，并于2025-01-10向國家知識產權局提交的專利申請。

本一種顯示屏重復缺陷檢測的方法、裝置及存儲介質在說明書摘要公布了：本申請公開了一種顯示屏重復缺陷檢測的方法、裝置及存儲介質，用于提高顯示屏缺陷的檢出效率。對采集到的顯示屏圖像進行一致性預處理；對所述顯示屏圖像進行點線區塊mura缺陷提取處理，并進行缺陷區域分割提取處理，生成點線區塊缺陷區域；對所述點線區塊缺陷區域進行blob分析，生成缺陷特征信息；根據所述缺陷特征信息的縱橫比AR值和缺陷位置信息對點線區塊缺陷區域進行區域合并；針對同一片ID的若干張顯示屏圖像，根據每兩張顯示屏圖像上的兩個點線區塊缺陷區域鄰接匹配度與歐式距離計算幾何位置鄰接匹配度；根據所述幾何位置鄰接匹配度進行顯示屏過檢分析處理。

本發明授權一種顯示屏重復缺陷檢測的方法、裝置及存儲介質在權利要求書中公布了：1.一種顯示屏重復缺陷檢測的方法，其特征在于，包括：對采集到的顯示屏圖像進行一致性預處理；對所述顯示屏圖像進行點線區塊mura缺陷提取處理，并進行缺陷區域分割提取處理，生成點線區塊缺陷區域；對所述點線區塊缺陷區域進行blob分析，生成缺陷特征信息；根據所述缺陷特征信息的縱橫比AR值和缺陷位置信息對點線區塊缺陷區域進行區域合并；針對同一片ID的若干張顯示屏圖像，根據每兩張顯示屏圖像上的兩個點線區塊缺陷區域鄰接匹配度與歐式距離計算幾何位置鄰接匹配度；根據所述幾何位置鄰接匹配度進行顯示屏過檢分析處理；針對不同ID的若干張顯示屏圖像，計算每兩張顯示屏圖像上的兩個點線區塊缺陷區域的幾何位置關系信息與缺陷特征關系信息，所述幾何位置關系信息為歐氏距離信息；針對不同ID的若干張顯示屏圖像，計算每兩張顯示屏圖像上的兩個點線區塊缺陷區域的幾何位置關系信息與缺陷特征關系信息，包括：針對不同ID的若干張顯示屏圖像，計算每兩張顯示屏圖像上的兩個點線區塊缺陷區域的歐氏距離信息；根據每兩張顯示屏圖像上的兩個點線區塊缺陷區域的圓度計算值、對比度計算值和紋理特征計算值計算缺陷特征關系信息；根據所述幾何位置關系信息與所述缺陷特征關系信息進行顯示屏批量異常檢測。

如需購買、轉讓、實施、許可或投資類似專利技術，可聯系本專利的申請人或專利權人深圳精智達技術股份有限公司，其通訊地址為：518000 廣東省深圳市龍華區龍華街道清湖社區清湖村富安娜公司1號101工業園D棟1樓東；或者聯系龍圖騰網官方客服，聯系龍圖騰網可撥打電話0551-65771310或微信搜索“龍圖騰網”。