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龍圖騰網恭喜江西聯創光電超導應用有限公司;北京交通大學申請的專利一種高溫超導磁體綜合性能分析系統及方法獲國家發明授權專利權，本發明授權專利權由國家知識產權局授予，授權公告號為：CN119439003B 。

龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-05-30發布的發明授權授權公告中獲悉：該發明授權的專利申請號/專利號為：202510038337.X，技術領域涉及：G01R33/00；該發明授權一種高溫超導磁體綜合性能分析系統及方法是由伍宇揚;伍銳;戴少濤;胡磊;馬韜;王邦柱;楊俊峰;陳德財設計研發完成，并于2025-01-10向國家知識產權局提交的專利申請。

本一種高溫超導磁體綜合性能分析系統及方法在說明書摘要公布了：本發明涉及高溫超導磁體技術領域，公開了一種高溫超導磁體綜合性能分析系統及方法，數據測試模塊施加不同的施加測試數據，獲取測試響應數據；第一構建模塊根據測試響應數據構建測試響應數據鏈；第一計算模塊根據測試響應數據和標準響應數據得到測試響應數據集合，計算測試性能分析系數；第二構建模塊根據施加測試數據構建施加測試數據鏈；第二計算模塊計算測試性能分析影響系數；性能分析模塊根據測試性能分析系數和測試性能分析影響系數計算綜合測試性能分析系數，判斷是否滿足生產需求，對高溫超導磁體進行兩個方面的綜合性能分析，避免綜合性能分析結果的片面性，保證綜合性能分析精準度和效率，保證高溫超導磁體的生產質量以及使用性能。

本發明授權一種高溫超導磁體綜合性能分析系統及方法在權利要求書中公布了：1.一種高溫超導磁體綜合性能分析系統，其特征在于，包括：數據測試模塊，用于確定待分析高溫超導磁體，對所述待分析高溫超導磁體施加不同的施加測試數據，并獲取所述待分析高溫超導磁體對應的多個測試響應數據，其中，所述施加測試數據與所述測試響應數據相互對應；第一構建模塊，用于對所有的測試響應數據進行同類型數據分析，并根據同一類型的所有測試響應數據構建測試響應數據鏈；第一計算模塊，用于獲取與所述待分析高溫超導磁體對應的標準響應數據，根據所述測試響應數據和所述標準響應數據之間的關系，將所述測試響應數據鏈劃分為不同的測試響應數據集合，并根據測試響應數據集合計算所述待分析高溫超導磁體的測試性能分析系數；第二構建模塊，用于對每次施加的施加測試數據進行同類型數據分析，并根據同一類型的所有施加測試數據構建施加測試數據鏈；第二計算模塊，用于確定所述施加測試數據鏈上的最大施加測試數據和最小施加測試數據，根據所述最大施加測試數據和所述最小施加測試數據對所述施加測試數據鏈進行分析，并基于分析結果計算所述待分析高溫超導磁體的測試性能分析影響系數；性能分析模塊，用于根據所述測試性能分析系數和所述測試性能分析影響系數計算所述待分析高溫超導磁體的綜合測試性能分析系數，并基于所述綜合測試性能分析系數判斷所述待分析高溫超導磁體是否滿足生產需求；所述第一計算模塊用于隨機抽取一條測試響應數據鏈，并將抽取的測試響應數據鏈上的測試響應數據和對應的標準響應數據進行對比，若所述測試響應數據小于所述標準響應數據，則將所述測試響應數據劃分至低測試響應數據集合；所述第一計算模塊用于若所述測試響應數據等于所述標準響應數據，則將所述測試響應數據劃分至等測試響應數據集合；所述第一計算模塊用于若所述測試響應數據大于所述標準響應數據，則將所述測試響應數據劃分至高測試響應數據集合；所述第一計算模塊用于計算所述低測試響應數據集合的低均值和低標準差，計算所述低均值和所述低標準差的和值，并作為低和值；所述第一計算模塊用于計算所述低均值和所述低標準差的差值絕對值，并作為低差值；所述第一計算模塊用于根據所述低和值和所述低差值確定第一數據范圍，提取所述低測試響應數據集合中所有處于所述第一數據范圍內的測試響應數據，并構建第一子集合；所述第一計算模塊用于計算所述等測試響應數據集合的等均值和等標準差，計算所述等均值和所述等標準差的和值，并作為等和值；所述第一計算模塊用于計算所述等均值和所述等標準差的差值絕對值，并作為等差值；所述第一計算模塊用于根據所述等和值和所述等差值確定第二數據范圍，提取所述等測試響應數據集合中所有處于所述第二數據范圍內的測試響應數據，并構建第二子集合；所述第一計算模塊用于計算所述高測試響應數據集合的高均值和高標準差，計算所述高均值和所述高標準差的和值，并作為高和值；所述第一計算模塊用于計算所述高均值和所述高標準差的差值絕對值，并作為高差值；所述第一計算模塊用于根據所述高和值和所述高差值確定第三數據范圍，提取所述高測試響應數據集合中所有處于所述第三數據范圍內的測試響應數據，并構建第三子集合；所述第一計算模塊用于根據所述第一子集合、所述第二子集合和所述第三子集合計算所述測試響應數據鏈的子測試性能分析系數；所述第一計算模塊用于計算剩余測試響應數據鏈的子測試性能分析系數，并根據所有的子測試性能分析系數計算所述待分析高溫超導磁體的測試性能分析系數；所述第一計算模塊用于根據下式計算所述測試響應數據鏈的子測試性能分析系數： ；其中，a1為測試響應數據鏈的子測試性能分析系數，e1為第一子集合對應的計算系數，n1為第一子集合中測試響應數據的數量，gi為第一子集合中第i個測試響應數據，f1為低和值，f2為低差值，e2為第三子集合對應的計算系數，n2為第三子集合中測試響應數據的數量，hj為第三子集合中第j個測試響應數據，f3為高和值，f4為高差值，e1+e2=3，且e1＞e2，c為子測試性能分析系數的計算調整因子。

如需購買、轉讓、實施、許可或投資類似專利技術，可聯系本專利的申請人或專利權人江西聯創光電超導應用有限公司;北京交通大學，其通訊地址為：330000 江西省南昌市南昌高新技術產業開發區京東大道168號科技大樓107號一、二樓；或者聯系龍圖騰網官方客服，聯系龍圖騰網可撥打電話0551-65771310或微信搜索“龍圖騰網”。