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龍圖騰網(wǎng)恭喜深圳佰維存儲(chǔ)科技股份有限公司申請(qǐng)的專(zhuān)利讀干擾測(cè)試方法、裝置、計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)及電子設(shè)備獲國(guó)家發(fā)明授權(quán)專(zhuān)利權(quán)，本發(fā)明授權(quán)專(zhuān)利權(quán)由國(guó)家知識(shí)產(chǎn)權(quán)局授予，授權(quán)公告號(hào)為：CN112185453B 。

龍圖騰網(wǎng)通過(guò)國(guó)家知識(shí)產(chǎn)權(quán)局官網(wǎng)在2025-05-13發(fā)布的發(fā)明授權(quán)授權(quán)公告中獲悉：該發(fā)明授權(quán)的專(zhuān)利申請(qǐng)?zhí)?專(zhuān)利號(hào)為：202011070888.8，技術(shù)領(lǐng)域涉及：G11C29/42；該發(fā)明授權(quán)讀干擾測(cè)試方法、裝置、計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)及電子設(shè)備是由孫成思;孫日欣;李振華;葉欣;焦坦設(shè)計(jì)研發(fā)完成，并于2020-10-09向國(guó)家知識(shí)產(chǎn)權(quán)局提交的專(zhuān)利申請(qǐng)。

本讀干擾測(cè)試方法、裝置、計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)及電子設(shè)備在說(shuō)明書(shū)摘要公布了：本發(fā)明公開(kāi)一種讀干擾測(cè)試方法、裝置、計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)及電子設(shè)備，根據(jù)輸入的測(cè)試數(shù)據(jù)確定待測(cè)試閃存待測(cè)試的塊及其對(duì)應(yīng)的待讀取區(qū)域，對(duì)待讀取區(qū)域進(jìn)行連續(xù)讀操作直至所述待測(cè)試的塊的實(shí)際ECC值大于預(yù)設(shè)ECC值，并輸出測(cè)試結(jié)果，通過(guò)自動(dòng)化測(cè)試方式，有效檢測(cè)待測(cè)試閃存持續(xù)讀操作下，不同讀次數(shù)所對(duì)應(yīng)的塊的穩(wěn)定程度，從而在對(duì)閃存的數(shù)據(jù)安全處理上，獲取到一個(gè)可以明確需要數(shù)據(jù)搬移或刷新的讀次數(shù)的閾值，通過(guò)自動(dòng)化的方式實(shí)現(xiàn)了測(cè)試對(duì)比動(dòng)作，實(shí)現(xiàn)對(duì)讀干擾的自動(dòng)化測(cè)試，提高了測(cè)試效率，并且能夠輸出直觀的測(cè)試結(jié)果，方便對(duì)閃存進(jìn)行特性分析和之后的算法調(diào)試。

本發(fā)明授權(quán)讀干擾測(cè)試方法、裝置、計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)及電子設(shè)備在權(quán)利要求書(shū)中公布了：1.一種讀干擾測(cè)試方法，其特征在于，包括步驟：接收測(cè)試參數(shù)，所述測(cè)試參數(shù)包括塊信息、頁(yè)信息以及預(yù)設(shè)ECC值；獲取待測(cè)試閃存的設(shè)備信息，根據(jù)所述塊信息、頁(yè)信息和設(shè)備信息確定所述待測(cè)試閃存待測(cè)試的塊及其對(duì)應(yīng)的待讀取區(qū)域；對(duì)所述待測(cè)試的塊進(jìn)行擦除并寫(xiě)操作；對(duì)所述待讀取區(qū)域進(jìn)行連續(xù)讀操作直至所述待測(cè)試的塊的實(shí)際ECC值大于所述預(yù)設(shè)ECC值，并輸出測(cè)試結(jié)果，所述測(cè)試結(jié)果包括當(dāng)前的所述實(shí)際ECC值及其對(duì)應(yīng)的讀操作的執(zhí)行次數(shù)；還包括將所述測(cè)試結(jié)果進(jìn)行保存；ECC值表示其對(duì)應(yīng)的塊的穩(wěn)定程度，是對(duì)數(shù)據(jù)的錯(cuò)誤檢查和糾正，每有一次數(shù)據(jù)出錯(cuò)并得到糾正，則ECC值增加；所述測(cè)試參數(shù)還包括檢驗(yàn)頻率；所述對(duì)所述待讀取區(qū)域進(jìn)行連續(xù)讀操作直至所述待測(cè)試的塊的實(shí)際ECC值大于所述預(yù)設(shè)ECC值，并輸出測(cè)試結(jié)果包括：在對(duì)所述待讀取區(qū)域進(jìn)行連續(xù)讀操作的過(guò)程中，根據(jù)所述檢驗(yàn)頻率獲取待測(cè)試的塊的實(shí)際ECC值，并將所述實(shí)際ECC值與所述預(yù)設(shè)ECC值進(jìn)行對(duì)比；判斷所述實(shí)際ECC值是否大于所述預(yù)設(shè)ECC值，若是，則輸出測(cè)試結(jié)果，若否，返回執(zhí)行對(duì)所述待讀取區(qū)域進(jìn)行連續(xù)讀操作步驟；所述檢驗(yàn)頻率進(jìn)行動(dòng)態(tài)設(shè)置，并且在軟件的實(shí)際運(yùn)行過(guò)程中，根據(jù)實(shí)際ECC值的比對(duì)結(jié)果進(jìn)行適應(yīng)性地改變，當(dāng)一數(shù)據(jù)塊的實(shí)際ECC值與預(yù)設(shè)ECC值之間的差值小于預(yù)設(shè)值時(shí)，則對(duì)所述數(shù)據(jù)塊對(duì)應(yīng)的檢驗(yàn)頻率進(jìn)行調(diào)整，以一預(yù)設(shè)調(diào)整幅度將其調(diào)小到一預(yù)設(shè)檢驗(yàn)頻率值；所述檢驗(yàn)頻率是指在進(jìn)行預(yù)設(shè)次數(shù)的讀操作后，去獲取一次當(dāng)前讀取的數(shù)據(jù)塊對(duì)應(yīng)的實(shí)際ECC值；所述預(yù)設(shè)ECC值由待測(cè)試閃存的校驗(yàn)?zāi)芰Q定，設(shè)置為校驗(yàn)極限的百分之八十。

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