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龍圖騰網恭喜深圳市紫光同創電子股份有限公司申請的專利一種針對芯片級的測試驗證系統及芯片檢測的方法獲國家發明授權專利權，本發明授權專利權由國家知識產權局授予，授權公告號為：CN114441934B 。

龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-05-13發布的發明授權授權公告中獲悉：該發明授權的專利申請號/專利號為：202111602923.0，技術領域涉及：G01R31/28；該發明授權一種針對芯片級的測試驗證系統及芯片檢測的方法是由黃梟;李雪良;洪萬帆;許明亮設計研發完成，并于2021-12-24向國家知識產權局提交的專利申請。

本一種針對芯片級的測試驗證系統及芯片檢測的方法在說明書摘要公布了：本發明提供了一種針對芯片級的測試驗證系統，包括：上位機，發出測試指令、全局測試位流和指定測試位流；第一數據處理模塊，接收全局測試位流，傳輸至存儲模塊；存儲模塊，存儲第一數據處理模塊輸出的全局測試位流；測試控制模塊，接收指定測試位流，控制第一數據處理模塊讀取與指定測試位流對應的配置信息對被測芯片進行配置；比對模塊，接收測試控制模塊讀取的與指定測試位流對應的激勵信息對被測芯片進行配置；采樣被測芯片輸出數據，與指定測試位流對應的激勵信息中的期望數據對比，存儲對比結果不一致的采樣數據和采樣時間。所述系統使從初產階段進入量產階段時測試成本最大化降低。本發明還提供了一種芯片檢測的方法，也可實現上述效果。

本發明授權一種針對芯片級的測試驗證系統及芯片檢測的方法在權利要求書中公布了：1.一種針對芯片級的測試驗證系統，其特征在于，所述系統包括：上位機，用于發出測試指令，提供全局測試位流和指定測試位流；第一數據處理模塊，用于接收所述上位機發出的所述測試指令和所述全局測試位流，將所述全局測試位流分為地址信息、配置信息和激勵信息，傳輸至存儲模塊；存儲模塊，用于存儲所述第一數據處理模塊輸出的所述地址信息、所述配置信息和所述激勵信息；測試控制模塊，用于接收所述上位機發出的所述測試指令和所述指定測試位流，根據所述測試指令和所述指定測試位流，控制所述第一數據處理模塊從所述存儲模塊讀取與所述指定測試位流對應的地址信息、配置信息和激勵信息；根據讀取的與所述指定測試位流對應的配置信息對被測芯片進行配置；并將讀取的與所述指定測試位流對應的激勵信息傳輸至比對模塊；比對模塊，用于接收所述測試模塊讀取的與所述指定測試位流對應的激勵信息，根據讀取的與所述指定測試位流對應的激勵信息對被測芯片進行配置；并采樣被測芯片輸出數據，將采樣的輸出數據與讀取的與所述指定測試位流對應的激勵信息中的期望數據進行對比，將對比結果不一致的采樣數據和采樣時間傳輸至所述測試控制模塊和所述上位機。

如需購買、轉讓、實施、許可或投資類似專利技術，可聯系本專利的申請人或專利權人深圳市紫光同創電子股份有限公司，其通訊地址為：518000 廣東省深圳市南山區粵海街道高新區社區高新南一道015號國微研發大樓401；或者聯系龍圖騰網官方客服，聯系龍圖騰網可撥打電話0551-65771310或微信搜索“龍圖騰網”。