買專利賣專利找龍圖騰，真高效！ 查專利查商標用IPTOP,全免費！專利年費監控用IP管家,真方便！

龍圖騰網恭喜四川啟睿克科技有限公司申請的專利一種基于多傳感器光譜數據的波長點篩選方法獲國家發明授權專利權，本發明授權專利權由國家知識產權局授予，授權公告號為：CN114689187B 。

龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-05-13發布的發明授權授權公告中獲悉：該發明授權的專利申請號/專利號為：202210328651.8，技術領域涉及：G01J9/00；該發明授權一種基于多傳感器光譜數據的波長點篩選方法是由劉浩;何濤;夏維高;閆曉劍;張國宏;王毅設計研發完成，并于2022-03-30向國家知識產權局提交的專利申請。

本一種基于多傳感器光譜數據的波長點篩選方法在說明書摘要公布了：本發明涉及近紅外光譜分析技術，其公開了一種基于多傳感器光譜數據的波長點篩選方法，目的在于減小光譜數據量，提升光譜分析效率，同時提高光譜模型準確性及穩定性。該方法首先導入原始多傳感器光譜數據，按照傳感器數目對光譜數據進行分類，獲得單量數據，然后對各個單量數據進行偏最小二乘法建模，獲取各個模型均方根誤差值，結合均方根誤差值計算各個單量數據表征系數，接著結合單量數據波長點數及表征系數對各個單量數據進行波長點數目篩選，最后結合各個單量數據波長點數目對波長點進行篩選，將篩選完成后的各個單量數據進行重組獲得多量數據。

本發明授權一種基于多傳感器光譜數據的波長點篩選方法在權利要求書中公布了：1.一種基于多傳感器光譜數據的波長點篩選方法，其特征在于，包括以下步驟：S1、導入原始多傳感器光譜數據，按照傳感器數目對光譜數據進行分類，獲得單量數據；S2、對各組單量數據進行偏最小二乘法建模，獲取各個模型均方根誤差值；S3、結合均方根誤差值計算各組單量數據表征系數，包括：光譜模型的均方根誤差RMESCV值越小的單量數據，其表征系數越高，計算方式為： 其中，α1、α2、α3、α4分別為第1、2、3、4組單量數據的表征系數，A1、A2、A3、A4分別為第1、2、3、4組單量數據建立的光譜模型的均方根誤差RMESCV值；S4、結合單量數據波長點數及表征系數對各組單量數據進行波長點數目篩選，包括：各組單量數據對應的表征系數越高，則說明該單量數據的樣品表征能力越強，在進行波長點數目篩選時應保留的波長點數目越多，計算方式為：Xi＝Roundαi*100％*m其中，αi為第i組單量數據的表征系數，m為需要從所有單量數據中篩選出來的波長點數目總和，Round為四舍五入函數，Xi為第i組單量數據中需要保留的波長點數目；S5、結合各組單量數據波長點數目對波長點進行篩選，將篩選完成后的各組單量數據進行重組獲得多量數據。

如需購買、轉讓、實施、許可或投資類似專利技術，可聯系本專利的申請人或專利權人四川啟睿克科技有限公司，其通訊地址為：610000 四川省成都市中國(四川)自由貿易試驗區成都高新區天府四街199號1棟33層；或者聯系龍圖騰網官方客服，聯系龍圖騰網可撥打電話0551-65771310或微信搜索“龍圖騰網”。