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龍圖騰網恭喜南京市特種設備安全監督檢驗研究院申請的專利基于改進YOLO算法的電路板外觀缺陷視覺識別方法及系統獲國家發明授權專利權，本發明授權專利權由國家知識產權局授予，授權公告號為：CN119784756B 。

龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-05-09發布的發明授權授權公告中獲悉：該發明授權的專利申請號/專利號為：202510277179.3，技術領域涉及：G06T7/00；該發明授權基于改進YOLO算法的電路板外觀缺陷視覺識別方法及系統是由倪敏敏;路成龍;王爽設計研發完成，并于2025-03-10向國家知識產權局提交的專利申請。

本基于改進YOLO算法的電路板外觀缺陷視覺識別方法及系統在說明書摘要公布了：本發明公開了一種基于改進YOLO算法的電路板外觀缺陷視覺識別方法及系統，該方法包括步驟S1：收集包含電路板外觀缺陷的圖像數據集，對所述數據集進行標注和預處理；步驟S2：以YOLOv8n為基礎算法進行改進，構建改進后的YOLO算法模型；步驟S3：使用預處理后的數據集對改進后的YOLO算法模型進行訓練；步驟S4：將待檢測的電路板圖像輸入到訓練好的改進后的YOLO算法模型中進行檢測，輸出缺陷的位置和類別信息。本發明通過構建DSXConv模塊和引入新型損失函數EAPIOU，增強了模型對微小缺陷和復雜形狀缺陷的識別能力，提高了檢測精度和效率。

本發明授權基于改進YOLO算法的電路板外觀缺陷視覺識別方法及系統在權利要求書中公布了：1.一種基于改進YOLO算法的電路板外觀缺陷視覺識別方法，其特征在于，包括以下步驟：步驟S1：數據準備：收集包含電路板外觀缺陷的圖像數據集，對數據集進行標注和預處理，所述預處理包括圖像增強和歸一化操作；步驟S2：模型構建：以YOLOv8n為基礎算法進行改進，構建改進后的YOLO算法模型，具體改進包括：步驟S2.1：基于動態蛇形卷積Dsconv構建DSXConv卷積模塊，利用DSXConv卷積模塊替換主干網絡C2f中的普通卷積模塊，形成C2f-DSM模塊；步驟S2.2：提出新型損失函數EAPIOU，所述損失函數EAPIOU增強位置、長寬比及角度匹配懲罰機制；EAPIOU損失函數的表達式為： （1）；上式中，Bp和Bg分別表示預測框和真實框的區域；d表示真實框與預測框中心坐標之間的歐氏距離；c表示真實框與預測框最小外包矩形的對角線距離；wg和hg分別為真實框的寬度和高度；wp和hp分別為預測框寬度和高度；λ為超參數，用于控制長寬比懲罰的影響力度；γ為全局平衡參數；wc和hc分別表示預測框與真實框的最小外包矩形的寬度和高度，表示真實框與預測框的寬度差懲罰項，表示真實框與預測框的高度差懲罰項，λv表示角度懲罰項，ρ表示計算元素之間的歐氏距離，L表示損失函數Loss，LIOU表示IOU損失函數，LCEIOU表示CEIOU損失函數；步驟S3：模型訓練：使用預處理后的數據集對改進后的YOLO算法模型進行訓練；步驟S4：缺陷檢測：將待檢測的電路板圖像輸入到訓練好的改進后的YOLO算法模型中進行檢測，輸出電路板圖像中缺陷的位置和類別信息。

如需購買、轉讓、實施、許可或投資類似專利技術，可聯系本專利的申請人或專利權人南京市特種設備安全監督檢驗研究院，其通訊地址為：210019 江蘇省南京市建鄴區嘉陵江東街3號質監大廈8樓；或者聯系龍圖騰網官方客服，聯系龍圖騰網可撥打電話0551-65771310或微信搜索“龍圖騰網”。