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龍圖騰網(wǎng)恭喜上海微阱電子科技有限公司申請(qǐng)的專利光電測(cè)試轉(zhuǎn)換電路及光電測(cè)試轉(zhuǎn)換方法獲國(guó)家發(fā)明授權(quán)專利權(quán)，本發(fā)明授權(quán)專利權(quán)由國(guó)家知識(shí)產(chǎn)權(quán)局授予，授權(quán)公告號(hào)為：CN115567704B 。

龍圖騰網(wǎng)通過國(guó)家知識(shí)產(chǎn)權(quán)局官網(wǎng)在2025-05-06發(fā)布的發(fā)明授權(quán)授權(quán)公告中獲悉：該發(fā)明授權(quán)的專利申請(qǐng)?zhí)?專利號(hào)為：202211295789.9，技術(shù)領(lǐng)域涉及：H04N17/00；該發(fā)明授權(quán)光電測(cè)試轉(zhuǎn)換電路及光電測(cè)試轉(zhuǎn)換方法是由莊天涯設(shè)計(jì)研發(fā)完成，并于2022-10-21向國(guó)家知識(shí)產(chǎn)權(quán)局提交的專利申請(qǐng)。

本光電測(cè)試轉(zhuǎn)換電路及光電測(cè)試轉(zhuǎn)換方法在說明書摘要公布了：本發(fā)明公開了一種光電測(cè)試轉(zhuǎn)換電路及光電測(cè)試轉(zhuǎn)換方法，該電路包括：當(dāng)檢測(cè)到光源的光信號(hào)時(shí)感光單元在外部電源的作用下產(chǎn)生電流，第一外部電源的正極連接到主控單元的輸入端，主控單元的輸出端連接至第一開關(guān)單元，電源芯片的一端連接至第一開關(guān)單元，電源芯片的另一端連接至光學(xué)性能檢測(cè)單元，主控單元用于控制第一開關(guān)單元導(dǎo)通時(shí)發(fā)送信號(hào)傳送至電源芯片，電源芯片啟動(dòng)光學(xué)性能檢測(cè)單元以對(duì)待測(cè)圖像傳感器的光學(xué)性能進(jìn)行檢測(cè)。第二外部電源連接第二開關(guān)單元和電學(xué)性能檢測(cè)單元，光源關(guān)閉后，當(dāng)主控單元控制第一開關(guān)單元關(guān)閉時(shí)，第二開關(guān)單元導(dǎo)通，啟動(dòng)電學(xué)性能檢測(cè)單元對(duì)待測(cè)圖像傳感器的電學(xué)性能進(jìn)行檢測(cè)。該電路能夠更加方便地進(jìn)行光電測(cè)試。

本發(fā)明授權(quán)光電測(cè)試轉(zhuǎn)換電路及光電測(cè)試轉(zhuǎn)換方法在權(quán)利要求書中公布了：1.一種光電測(cè)試轉(zhuǎn)換電路，其特征在于，包括：光測(cè)試電路模塊和電測(cè)試電路模塊，其中：所述光測(cè)試電路模塊包括感光單元、第一開關(guān)單元、主控單元、電源芯片和光學(xué)性能檢測(cè)單元；所述電測(cè)試電路模塊包括第二開關(guān)單元和電學(xué)性能檢測(cè)單元；其中，所述感光單元連接所述第一開關(guān)單元，所述感光單元用于當(dāng)檢測(cè)到光源發(fā)出的光信號(hào)時(shí)產(chǎn)生電流，所述電流流經(jīng)所述第一開關(guān)單元形成第一開關(guān)單元的電壓差；第一外部電源VCC連接到所述主控單元的輸入端，所述主控單元的輸出端連接至第一開關(guān)單元，所述電源芯片的一端連接至所述第一開關(guān)單元，所述電源芯片的另一端連接至所述光學(xué)性能檢測(cè)單元，所述主控單元用于控制所述第一開關(guān)單元是否導(dǎo)通，當(dāng)所述第一開關(guān)單元導(dǎo)通時(shí)，主控單元發(fā)送的信號(hào)傳送至所述電源芯片，所述電源芯片用于啟動(dòng)光學(xué)性能檢測(cè)單元；所述光學(xué)性能檢測(cè)單元用于對(duì)待測(cè)圖像傳感器的光學(xué)性能進(jìn)行檢測(cè)；其中，第二外部電源VDD連接所述第二開關(guān)單元和所述電學(xué)性能檢測(cè)單元，所述光學(xué)性能檢測(cè)單元的輸出端連接所述第二開關(guān)單元并接地，光源關(guān)閉后，當(dāng)主控單元控制所述第一開關(guān)單元關(guān)閉時(shí)，所述第二開關(guān)單元導(dǎo)通，啟動(dòng)電學(xué)性能檢測(cè)單元，所述電學(xué)性能檢測(cè)單元用于對(duì)待測(cè)圖像傳感器的電學(xué)性能進(jìn)行檢測(cè)。

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