買專利賣專利找龍圖騰，真高效！ 查專利查商標(biāo)用IPTOP,全免費！專利年費監(jiān)控用IP管家,真方便！

龍圖騰網(wǎng)恭喜西安電子科技大學(xué)申請的專利一種基于小樣本增量學(xué)習(xí)的SAR圖像目標(biāo)識別方法獲國家發(fā)明授權(quán)專利權(quán)，本發(fā)明授權(quán)專利權(quán)由國家知識產(chǎn)權(quán)局授予，授權(quán)公告號為：CN114943889B 。

龍圖騰網(wǎng)通過國家知識產(chǎn)權(quán)局官網(wǎng)在2025-04-29發(fā)布的發(fā)明授權(quán)授權(quán)公告中獲悉：該發(fā)明授權(quán)的專利申請?zhí)?專利號為：202210296918.X，技術(shù)領(lǐng)域涉及：G06V20/10；該發(fā)明授權(quán)一種基于小樣本增量學(xué)習(xí)的SAR圖像目標(biāo)識別方法是由周峰;王力;楊鑫瑤;譚浩月;白雪茹設(shè)計研發(fā)完成，并于2022-03-24向國家知識產(chǎn)權(quán)局提交的專利申請。

本一種基于小樣本增量學(xué)習(xí)的SAR圖像目標(biāo)識別方法在說明書摘要公布了：本發(fā)明涉及一種基于小樣本增量學(xué)習(xí)的SAR圖像目標(biāo)識別方法，包括：步驟1：構(gòu)建基于原型思想的深度殘差網(wǎng)絡(luò)；步驟2：利用基類數(shù)據(jù)集和增量數(shù)據(jù)集對基于原型思想的深度殘差網(wǎng)絡(luò)分別進(jìn)行基類訓(xùn)練和增量學(xué)習(xí)；步驟3：將待測SAR圖像輸入至訓(xùn)練學(xué)習(xí)完成的基于原型思想的深度殘差網(wǎng)絡(luò)中，得到待測SAR圖像的預(yù)測分類結(jié)果。本發(fā)明的基于小樣本增量學(xué)習(xí)的SAR圖像目標(biāo)識別方法，設(shè)計了一種基于原型思想的深度殘差網(wǎng)絡(luò)，該網(wǎng)絡(luò)即使在圖像樣本較少的情況下，也能具有自動提取SAR圖像特征的能力，與現(xiàn)在技術(shù)相比，將SAR圖像映射到特征空間內(nèi)的方法能夠一定程度上減少因樣本數(shù)量缺乏而引起的過擬合現(xiàn)象，提升整體網(wǎng)絡(luò)對小樣本圖像的識別能力。

本發(fā)明授權(quán)一種基于小樣本增量學(xué)習(xí)的SAR圖像目標(biāo)識別方法在權(quán)利要求書中公布了：1.一種基于小樣本增量學(xué)習(xí)的SAR圖像目標(biāo)識別方法，其特征在于，包括：步驟1：構(gòu)建基于原型思想的深度殘差網(wǎng)絡(luò)；步驟2：利用基類數(shù)據(jù)集和增量數(shù)據(jù)集對所述基于原型思想的深度殘差網(wǎng)絡(luò)分別進(jìn)行基類訓(xùn)練和增量學(xué)習(xí)；步驟3：將待測SAR圖像輸入至訓(xùn)練學(xué)習(xí)完成的基于原型思想的深度殘差網(wǎng)絡(luò)中，得到所述待測SAR圖像的預(yù)測分類結(jié)果；所述基于原型思想的深度殘差網(wǎng)絡(luò)包括依次連接的卷積模塊、深度殘差網(wǎng)絡(luò)、自適應(yīng)平均池化層、全連接層和分類器，其中，所述卷積模塊包括依次連接的第一卷積層和第一ReLU激活層；所述深度殘差網(wǎng)絡(luò)包括依次連接的若干殘差塊，用于提取輸入圖像的圖像特征；所述全連接層用于存儲類原型，所述全連接層中集成有圖注意網(wǎng)絡(luò)，所述圖注意網(wǎng)絡(luò)用于在增量學(xué)習(xí)階段調(diào)整存儲在所述全連接層上的類原型位置；所述分類器為余弦分類器，用于輸出預(yù)測分類結(jié)果；所述殘差塊包括依次連接的第二卷積層、第一批規(guī)范化層、第二ReLU激活層、第三卷積層、第二批規(guī)范化層和第三ReLU激活層；所述殘差塊的輸入與該殘差塊的輸入依次通過所述第二卷積層、所述第一批規(guī)范化層、所述第二ReLU激活層、所述第三卷積層以及所述第二批規(guī)范化層后的輸出相加的結(jié)果經(jīng)過所述第三ReLU激活層后輸出；所述殘差塊還包括通道數(shù)轉(zhuǎn)換單元，所述通道數(shù)轉(zhuǎn)換單元連接在所述第二卷積層的輸入端與所述第二批規(guī)范化層的輸出端之間，所述通道數(shù)轉(zhuǎn)換單元包括依次連接的一個卷積層和一個批規(guī)范化層；當(dāng)所述殘差塊的輸入通道數(shù)與其輸出的通道數(shù)不相等時，所述殘差塊的輸入通過所述通道數(shù)轉(zhuǎn)換單元轉(zhuǎn)換為與其輸出相同的通道數(shù)后與所述第二批規(guī)范化層的輸出相加的結(jié)果經(jīng)過所述第三ReLU激活層后輸出。

如需購買、轉(zhuǎn)讓、實施、許可或投資類似專利技術(shù)，可聯(lián)系本專利的申請人或?qū)＠麢?quán)人西安電子科技大學(xué)，其通訊地址為：710000 陜西省西安市雁塔區(qū)太白南路2號；或者聯(lián)系龍圖騰網(wǎng)官方客服，聯(lián)系龍圖騰網(wǎng)可撥打電話0551-65771310或微信搜索“龍圖騰網(wǎng)”。