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恭喜北京工業大學萬培元獲國家專利權

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龍圖騰網恭喜北京工業大學申請的專利一種用于連續時間型Sigma-Delta調制器的相位域量化殘差檢測模塊獲國家發明授權專利權,本發明授權專利權由國家知識產權局授予,授權公告號為:CN116015308B

龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-04-29發布的發明授權授權公告中獲悉:該發明授權的專利申請號/專利號為:202211567865.7,技術領域涉及:H03M3/00;該發明授權一種用于連續時間型Sigma-Delta調制器的相位域量化殘差檢測模塊是由萬培元;張闊;李澤陽;陳志杰設計研發完成,并于2022-12-08向國家知識產權局提交的專利申請。

一種用于連續時間型Sigma-Delta調制器的相位域量化殘差檢測模塊在說明書摘要公布了:本發明提出了一種用于連續時間型Sigma?Delta調制器的相位域量化殘差檢測模塊,包括上升沿和下降沿D觸發器,兩輸入與非門,正負兩種極性的量化相位檢測電路以及兩輸入與門,通過對采樣時鐘和輸入數據的相位進行檢測,得到每一級的量化殘差,并轉化為時間域上具有不同占空比的方波信號,從而作為后續級聯Sigma?Delta調制器的輸入,為基于壓控振蕩器的連續時間型Sigma?Delta調制器的MASH結構提供了一種解決方案,該發明通過簡單的電路改進并保留了相位域量化殘差工作速度快的優點,有效避免了因依靠多級數據互相參考導致輸出殘差不準確的問題。

本發明授權一種用于連續時間型Sigma-Delta調制器的相位域量化殘差檢測模塊在權利要求書中公布了:1.一種用于連續時間型Sigma-Delta調制器的相位域量化殘差檢測模塊,其特征在于,包括:上升沿和下降沿D觸發器,用于得到不同邊沿的輸入信號;兩輸入與非門,用于對檢測電路進行復位;正負兩種極性的量化相位檢測電路,用于得到采樣時鐘和不同邊沿信號的相位差值;兩輸入與門,用于得到輸入信號相位域的量化殘差;其中,正極性量化相位檢測電路的上升沿觸發器DFF1輸入端接固定的高電平,時鐘端接輸入端口DATA,復位端接兩輸入與非門的輸出,輸出端接兩輸入與非門其中的一個輸入;上升沿觸發器DFF2輸入端接固定的高電平,時鐘端接輸入端口CLK,復位端接兩輸入與非門的輸出,輸出端接兩輸入與非門其中的一個輸入;兩輸入與非門的其中的一個輸入端接DFF1的輸出,另外一個輸入端接DFF2的輸出,輸出端接DFF1和DFF2的復位;負極性量化相位檢測電路的下降沿觸發器DFF3輸入端接固定的高電平,時鐘端接輸入端口DATA,復位端接兩輸入與非門的輸出,輸出端接兩輸入與非門其中的一個輸入;上升沿觸發器DFF4輸入端接固定的高電平,時鐘端接輸入端口CLK,復位端接兩輸入與非門的輸出,輸出端接兩輸入與非門其中的一個輸入;兩輸入與非門的其中的一個輸入端接DFF3的輸出,另外一個輸入端接DFF4的輸出,輸出端接DFF3和DFF4的復位;相位域量化殘差檢測電路第一級的正極性量化相位檢測模塊QPD_P1時鐘端接外部采樣時鐘端口CLK,輸入端接外部第一位數據輸入端口DATA[1],輸出端接兩輸入與門其中的一個輸入;第一級的負極性量化相位檢測模塊QPD_N1時鐘端接外部采樣時鐘端口CLK,輸入端接外部第一位數據輸入端口DATA[1],輸出端接兩輸入與門的另一個輸入;兩輸入與門的其中的一個輸入端接QPD_P1的輸出,另外一個輸入端接QPD_N1的輸出,與門的輸出為對應的第一級相位域量化殘差Tq[1];相位域量化殘差檢測電路第二級的正極性量化相位檢測模塊QPD_P2時鐘端接外部采樣時鐘端口CLK,輸入端接外部第二位數據輸入端口DATA[2],輸出端接兩輸入與門其中的一個輸入;第二級的負極性量化相位檢測模塊QPD_N2時鐘端接外部采樣時鐘端口CLK,輸入端接外部第二位數據輸入端口DATA[2],輸出端接兩輸入與門的另一個輸入;兩輸入與門的其中的一個輸入端接QPD_P2的輸出,另外一個輸入端接QPD_N2的輸出,與門的輸出為對應的第二級相位域量化殘差Tq[2];以此類推,相位域量化殘差檢測電路第n級的正極性量化相位檢測模塊QPD_Pn時鐘端接外部采樣時鐘端口CLK,輸入端接外部第n位數據輸入端口DATA[n],輸出端接兩輸入與門其中的一個輸入;第n級的負極性量化相位檢測模塊QPD_Nn時鐘端接外部采樣時鐘端口CLK,輸入端接外部第n位數據輸入端口DATA[n],輸出端接兩輸入與門的另一個輸入;兩輸入與門的其中的一個輸入端接QPD_Pn的輸出,另外一個輸入端接QPD_Nn的輸出,與門的輸出為對應的第n級相位域量化殘差Tq[n]。

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