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龍圖騰網恭喜中國電子科技集團公司第十三研究所申請的專利一種基于內切圓心的波導端口S參數校準方法及裝置獲國家發明授權專利權，本發明授權專利權由國家知識產權局授予，授權公告號為：CN115219815B 。

龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-04-15發布的發明授權授權公告中獲悉：該發明授權的專利申請號/專利號為：202210743203.4，技術領域涉及：G01R31/00；該發明授權一種基于內切圓心的波導端口S參數校準方法及裝置是由劉晨;欒鵬;孫靜;王維;王一幫;霍曄;吳愛華;陳曉華;李彥麗;丁立強;蔣贊勤設計研發完成，并于2022-06-27向國家知識產權局提交的專利申請。

本一種基于內切圓心的波導端口S參數校準方法及裝置在說明書摘要公布了：本發明提供一種基于內切圓心的波導端口S參數校準方法及裝置。該方法包括：獲取負載校準件第一反射系數。獲取負載校準件在第一相位偏置下的第二反射系數。獲取負載校準件在第二相位偏置下的第三反射系數。計算由第一反射系數、第二反射系數和第三反射系數在史密斯圓圖中構成的三角形的內切圓圓心坐標，作為負載校準件修正后的反射系數。根據修正后的反射系數校準矢量網絡分析儀波導端口的S參數。本發明能夠通過負載校準件在不同相位偏置下的反射系數獲得修正值，以修正值作為負載校準件實際反射系數為0時測得的反射系數，修正波導端口校準過程中由于負載校準件的反射系數不是理想的0帶來的校準誤差，得到更準確的波導端口S參數測量結果。

本發明授權一種基于內切圓心的波導端口S參數校準方法及裝置在權利要求書中公布了：1.一種基于內切圓心的波導端口S參數校準方法，其特征在于，所述方法包括：獲取由矢量網絡分析儀測量得到的負載校準件在無相位偏置下的第一反射系數；獲取由矢量網絡分析儀測量得到的負載校準件在第一相位偏置下的第二反射系數；獲取由矢量網絡分析儀測量得到的負載校準件在第二相位偏置下的第三反射系數，其中第二相位偏置不等于第一相位偏置；計算由第一反射系數、第二反射系數和第三反射系數在史密斯圓圖中構成的三角形的內切圓圓心坐標，作為負載校準件修正后的反射系數；根據所述負載校準件修正后的反射系數校準矢量網絡分析儀波導端口的S參數。

如需購買、轉讓、實施、許可或投資類似專利技術，可聯系本專利的申請人或專利權人中國電子科技集團公司第十三研究所，其通訊地址為：050051 河北省石家莊市合作路113號；或者聯系龍圖騰網官方客服，聯系龍圖騰網可撥打電話0551-65771310或微信搜索“龍圖騰網”。