恭喜哈爾濱工業大學楊劍群獲國家專利權
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龍圖騰網恭喜哈爾濱工業大學申請的專利一種確定航天器薄弱區域輻射余度的方法獲國家發明授權專利權,本發明授權專利權由國家知識產權局授予,授權公告號為:CN115186464B 。
龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-04-15發布的發明授權授權公告中獲悉:該發明授權的專利申請號/專利號為:202210768541.3,技術領域涉及:G06F30/20;該發明授權一種確定航天器薄弱區域輻射余度的方法是由楊劍群;李興冀;應濤;徐曉東;崔秀海設計研發完成,并于2022-06-30向國家知識產權局提交的專利申請。
本一種確定航天器薄弱區域輻射余度的方法在說明書摘要公布了:本發明提供一種確定航天器薄弱區域輻射余度的方法,包括:對航天器的三維幾何結構進行射線跟蹤運算,獲得屏蔽深度數據,以及每個空間角度區域內的劑量值和空間角大小;計算深度?立體角占比曲線、劑量占比?立體角占比曲線以及總劑量;將計算結果換算為劑量倍數?立體角占比曲線以及劑量倍數?深度曲線;將薄弱區域的立體角比例和屏蔽深度上限分別作為判據,將所述判據分別代入劑量倍數?立體角占比曲線以及劑量倍數?深度曲線中,獲得根據薄弱區域確定的輻射余度。本發明能夠對用戶關心的航天器薄弱區域進行針對性分析,有助于對航天器設計提供多標準、多維度的參考,加強對薄弱部位的輻射防護,延長敏感元器件的使用壽命。
本發明授權一種確定航天器薄弱區域輻射余度的方法在權利要求書中公布了:1.一種確定航天器薄弱區域輻射余度的方法,其特征在于,包括以下步驟:步驟S1、對航天器的三維幾何結構進行射線跟蹤運算,獲得屏蔽深度數據,以及每個空間角度區域內的劑量值和空間角大小;步驟S2、計算深度-立體角占比曲線、劑量占比-立體角占比曲線以及總劑量;步驟S3、將步驟S2中的計算結果換算為劑量倍數-立體角占比曲線以及劑量倍數-深度曲線;步驟S4、將薄弱區域的立體角比例和屏蔽深度上限作為判據,將所述判據分別代入劑量倍數-立體角占比曲線以及劑量倍數-深度曲線中,分別獲得按立體角占比確定的總劑量倍數以及按深度確定的總劑量倍數,以取兩者較大值或者取兩者平均值的方式獲取最終的總劑量倍數,將所述總劑量倍數乘以總劑量,即可獲得根據薄弱區域確定的輻射余度。
如需購買、轉讓、實施、許可或投資類似專利技術,可聯系本專利的申請人或專利權人哈爾濱工業大學,其通訊地址為:150000 黑龍江省哈爾濱市南崗區西大直街92號;或者聯系龍圖騰網官方客服,聯系龍圖騰網可撥打電話0551-65771310或微信搜索“龍圖騰網”。
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