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恭喜寧波百世偉業印務有限公司林建紅獲國家專利權

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龍圖騰網恭喜寧波百世偉業印務有限公司申請的專利一種基于壓痕的瓦楞紙質量檢測方法、介質、設備獲國家發明授權專利權,本發明授權專利權由國家知識產權局授予,授權公告號為:CN119164960B

龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-03-25發布的發明授權授權公告中獲悉:該發明授權的專利申請號/專利號為:202411671386.9,技術領域涉及:G01N21/88;該發明授權一種基于壓痕的瓦楞紙質量檢測方法、介質、設備是由林建紅;王建偉;蔣燕;徐旭東;張輝;劉英;楊蘭設計研發完成,并于2024-11-21向國家知識產權局提交的專利申請。

一種基于壓痕的瓦楞紙質量檢測方法、介質、設備在說明書摘要公布了:本發明為一種基于壓痕的瓦楞紙質量檢測方法,包括如下步驟:獲取待測瓦楞紙正反面圖像,記為第一圖像和第二圖像,根據第一圖像和第二圖像定位壓痕缺陷特征;S200、定位壓痕缺陷特征后,移動線陣CCD相機至待測壓痕缺陷特征上方,采集壓痕缺陷圖像,對壓痕缺陷特征圖像進行二值化處理,提取標準圖像質心陣列,比對點陣的偏移量和偏轉角并確定壓痕缺陷特征的凹凸方向;S300、根據壓痕缺陷特征的凹凸方向以及瓦楞紙的結構建立瓦楞紙的三維模型,并進行有限元分析獲取其抗壓強度。本發明通過獲取待測瓦楞紙正反兩面的圖像,定位壓痕缺陷特征后獲取壓痕缺陷特征圖像并對其進行二值化處理得到標準圖像質心陣列,得出了一套完整的瓦楞紙表面壓痕質量檢測方法。

本發明授權一種基于壓痕的瓦楞紙質量檢測方法、介質、設備在權利要求書中公布了:1.一種基于壓痕的瓦楞紙質量檢測方法,其特征在于,包括如下步驟:S100,獲取待測瓦楞紙正反面圖像,分別記為第一圖像和第二圖像,根據第一圖像和第二圖像定位壓痕缺陷特征;S200、定位壓痕缺陷特征后,移動拍攝系統中的線陣CCD相機至待測壓痕缺陷特征的上方,并在被測壓痕缺陷特征的斜上方放置光源,并采集壓痕缺陷圖像,并對壓痕缺陷特征圖像進行二值化處理,提取標準圖像質心陣列,比對點陣的偏移量和偏轉角并確定壓痕缺陷特征的凹凸方向;S300、根據壓痕缺陷特征的凹凸方向以及瓦楞紙的結構建立瓦楞紙的三維模型,并進行有限元分析獲取其抗壓強度,確定該抗壓強度是否在合格范圍內,若在合格范圍內,則判定為合格品;其中步驟S100中,定位壓痕缺陷特征時,包括以下步驟:S101、對第一圖像和第二圖像進行灰度化處理,獲取灰度區域內的最大區域面積,并統計灰度區域最大面積10%以上的連通區域數量,對連通區域進行集合標注,并計算最大區域的灰度值MAX;S102、根據壓痕缺陷特征差值將灰度面積進行連通,連通方法為:若連通區域的灰度值大于灰度圖像最大的灰度值MAX,則保留該連通區域;若連通區域的灰度值小于灰度圖像最大的灰度值MAX,則進行以下判斷,計算該連通區域中心與其他連通區域中心的距離{D1,D2,D3,D4,Dn-1},其中n為連通區域的數量,若{D1,D2,D3,D4,Dn-1}中存在小于L3的數值,則保留該連通區域,否則,去除該連通區域,其中L為灰度區域最大面積區域的長度;S103、輸出結果圖,并根據結果圖上保留的連通區域數量確定壓痕缺陷位置;其中還包括獲取無壓痕缺陷特征的標準圖像,并提取標準圖像質心陣列,同時對光斑所在區域的壓痕缺陷特征的二值圖進行掃描并保存坐標,并計算質心坐標,則質心坐標為:Xc=x1+x2+x3+…xNNYc=y1+y2+y3+…yNN;其中,x1、x2、xN分別為光源投射到壓痕缺陷特征表面的第一個、第二個到第N個光斑質心的橫坐標;Xc為二值圖的質心橫坐標;y1、y2、yN分別為光源投射到壓痕缺陷特征表面的第一個、第二個到第N個光斑質心的縱坐標;Yc為二值圖的質心縱坐標;提取出質心之后根據標準圖像計算出被測壓痕缺陷各點相對于標準圖像標準值的偏移量和偏向角度,被測點與標準圖像標準點間的偏移距離用歐氏距離計算,其公式如下: ; ;其中,x11、x21、xi1分別為第一個、第二個到第n個被測點的質心橫坐標;x12、x22、xi2分別為第一個、第二個直到第n個標準理想點的質心橫坐標;Dx為橫坐標理想值與被測值偏移量的歐式距離;y11、y21、yi1分別為第一個、第二個到第n個被測點的質心縱坐標;y12、y22、yi2分別為第一個、第二個到第n個標準理想點的質心縱坐標;Dy為縱坐標理想值與被測值偏移量的歐式距離;經過理想點和偏移點的直線與x軸的夾角為偏向角,則偏向角θ=arctanDyDx。

如需購買、轉讓、實施、許可或投資類似專利技術,可聯系本專利的申請人或專利權人寧波百世偉業印務有限公司,其通訊地址為:315000 浙江省寧波市江北區江北大道20弄200號1-4幢1樓;或者聯系龍圖騰網官方客服,聯系龍圖騰網可撥打電話0551-65771310或微信搜索“龍圖騰網”。

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