恭喜哈爾濱工業(yè)大學(xué)(深圳)何陽(yáng)獲國(guó)家專利權(quán)
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龍圖騰網(wǎng)恭喜哈爾濱工業(yè)大學(xué)(深圳)申請(qǐng)的專利熱導(dǎo)測(cè)量裝置、系統(tǒng)及方法獲國(guó)家發(fā)明授權(quán)專利權(quán),本發(fā)明授權(quán)專利權(quán)由國(guó)家知識(shí)產(chǎn)權(quán)局授予,授權(quán)公告號(hào)為:CN113008929B 。
龍圖騰網(wǎng)通過(guò)國(guó)家知識(shí)產(chǎn)權(quán)局官網(wǎng)在2025-03-21發(fā)布的發(fā)明授權(quán)授權(quán)公告中獲悉:該發(fā)明授權(quán)的專利申請(qǐng)?zhí)?專利號(hào)為:202110196255.X,技術(shù)領(lǐng)域涉及:G01N25/18;該發(fā)明授權(quán)熱導(dǎo)測(cè)量裝置、系統(tǒng)及方法是由何陽(yáng);孫華銳;張亮輝設(shè)計(jì)研發(fā)完成,并于2021-02-22向國(guó)家知識(shí)產(chǎn)權(quán)局提交的專利申請(qǐng)。
本熱導(dǎo)測(cè)量裝置、系統(tǒng)及方法在說(shuō)明書摘要公布了:本發(fā)明涉及熱導(dǎo)測(cè)量設(shè)備技術(shù)領(lǐng)域,提供一種熱導(dǎo)測(cè)量裝置、系統(tǒng)及方法,上述熱導(dǎo)測(cè)量裝置包括激光發(fā)生器、光路組件、非相干光源、入射光纖、接收光纖和光電探測(cè)器,激光發(fā)生器通過(guò)光路組件向微納薄膜材料投射加熱激光且在微納薄膜材料上形成第一光斑,非相干光源通過(guò)入射光纖向微納薄膜材料投射探測(cè)光且在微納薄膜材料上形成與第一光斑相重合的第二光斑,探測(cè)光經(jīng)微納薄膜材料反射形成第一反射光,光電探測(cè)器通過(guò)接收光纖接收第一反射光,由于探測(cè)光為非相干光,有效避免探測(cè)光產(chǎn)生干涉效應(yīng),有效提高熱導(dǎo)測(cè)量裝置的測(cè)量精度;通過(guò)入射光纖和接收光纖分別實(shí)現(xiàn)對(duì)探測(cè)光的投射和對(duì)第一反射光的接收,有效簡(jiǎn)化光路結(jié)構(gòu),提高可操作性。
本發(fā)明授權(quán)熱導(dǎo)測(cè)量裝置、系統(tǒng)及方法在權(quán)利要求書中公布了:1.一種熱導(dǎo)測(cè)量裝置,其特征在于:所述熱導(dǎo)測(cè)量裝置包括激光發(fā)生器、光路組件、非相干光源、入射光纖、接收光纖和光電探測(cè)器,所述非相干光源為單色LED光源,所述激光發(fā)生器通過(guò)所述光路組件向微納薄膜材料投射加熱激光且在所述微納薄膜材料上形成第一光斑,所述非相干光源通過(guò)所述入射光纖向所述微納薄膜材料垂直投射探測(cè)光且在所述微納薄膜材料上形成與所述第一光斑相重合的第二光斑,所述探測(cè)光經(jīng)所述微納薄膜材料垂直反射形成第一反射光,所述光電探測(cè)器通過(guò)所述接收光纖接收所述第一反射光;所述加熱激光的投射方向與所述探測(cè)光的投射方向相交設(shè)置,所述加熱激光到達(dá)微納薄膜材料的表面后反射形成第二反射光,所述第二反射光與所述探測(cè)光不重合。
如需購(gòu)買、轉(zhuǎn)讓、實(shí)施、許可或投資類似專利技術(shù),可聯(lián)系本專利的申請(qǐng)人或?qū)@麢?quán)人哈爾濱工業(yè)大學(xué)(深圳),其通訊地址為:518000 廣東省深圳市南山區(qū)桃源街道深圳大學(xué)城哈爾濱工業(yè)大學(xué)校區(qū);或者聯(lián)系龍圖騰網(wǎng)官方客服,聯(lián)系龍圖騰網(wǎng)可撥打電話0551-65771310或微信搜索“龍圖騰網(wǎng)”。
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