恭喜北京環境特性研究所朱超穎獲國家專利權
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龍圖騰網恭喜北京環境特性研究所申請的專利一種點源角反射器陣列RCS模擬評估方法和裝置獲國家發明授權專利權,本發明授權專利權由國家知識產權局授予,授權公告號為:CN113960560B 。
龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-03-21發布的發明授權授權公告中獲悉:該發明授權的專利申請號/專利號為:202111483755.8,技術領域涉及:G01S7/41;該發明授權一種點源角反射器陣列RCS模擬評估方法和裝置是由朱超穎;李勝;曾克思;崔閃;張文林;李煥敏設計研發完成,并于2021-12-07向國家知識產權局提交的專利申請。
本一種點源角反射器陣列RCS模擬評估方法和裝置在說明書摘要公布了:本發明涉及一種點源角反射器陣列RCS模擬評估方法和裝置,該方法的一個具體實施方式包括:對待評估的點源角反射器陣列進行電磁仿真計算,獲取所述點源角反射器陣列的雷達散射截面RCS值;對獲取的所述點源角反射器陣列的RCS值進行平滑處理,得到平滑后的RCS值;根據所述平滑后的RCS值對所述點源角反射器陣列的RCS模擬精度和RCS分布均勻性進行評估;其中,所述RCS模擬精度包括整體RCS精度和中心RCS精度,RCS分布均勻性包括RCS方位向分布均勻性和RCS俯仰向分布均勻性。該實施方式能夠針對點源角反射器陣列的RCS模擬精度和RCS分布均勻性進行準確評估。
本發明授權一種點源角反射器陣列RCS模擬評估方法和裝置在權利要求書中公布了:1.一種點源角反射器陣列RCS模擬評估方法,其特征在于,包括:對待評估的點源角反射器陣列進行電磁仿真計算,獲取所述點源角反射器陣列的雷達散射截面RCS值;對獲取的所述點源角反射器陣列的RCS值進行平滑處理,得到平滑后的RCS值;根據所述平滑后的RCS值對所述點源角反射器陣列的RCS模擬精度和RCS分布均勻性進行評估;其中,所述RCS模擬精度包括整體RCS精度和中心RCS精度,RCS分布均勻性包括RCS方位向分布均勻性和RCS俯仰向分布均勻性;根據所述平滑后的RCS值對所述點源角反射器陣列的RCS模擬精度進行評估,包括:針對所述點源角反射器陣列在任一方位角和任一俯仰角的所述平滑后的RCS值,獲取所述平滑后的RCS值中、與要求模擬的RCS值的偏差在預設的第一幅度內的RCS值的占比;在該占比不小于預設的第一閾值時,將所述點源角反射器陣列的整體RCS精度評估為通過;根據所述平滑后的RCS值對所述點源角反射器陣列的RCS模擬精度進行評估,包括:針對所述點源角反射器陣列在任一方位角和任一俯仰角的所述平滑后的RCS值,獲取所述平滑后的RCS值中、與要求模擬的RCS值的偏差在預設的第二幅度內的RCS值的占比;其中,第二幅度小于第一幅度;在該占比不小于預設的第二閾值時,將所述點源角反射器陣列的中心RCS精度評估為通過;根據所述平滑后的RCS值對所述點源角反射器陣列的RCS分布均勻性進行評估,包括:針對所述點源角反射器陣列在預設的方位角跨度內的每一連續方位角的所述平滑后的RCS值,獲取該RCS值的線性均值;使用所述方位角跨度遍歷所述方位向仿真角度范圍,得到多個該RCS值的線性均值;在每一該RCS值的線性均值與要求模擬的RCS值的偏差不大于預設的第三幅度時,將所述點源角反射器陣列的RCS方位向分布均勻性評估為通過;根據所述平滑后的RCS值對所述點源角反射器陣列的RCS分布均勻性進行評估,包括:針對所述點源角反射器陣列在預設的俯仰角跨度內的每一連續俯仰角的所述平滑后的RCS值,獲取該RCS值的線性均值;使用所述方位角跨度遍歷所述俯仰向仿真角度范圍,得到多個該RCS值的線性均值;在每一該RCS值的線性均值與要求模擬的RCS值的偏差不大于預設的第四幅度時,將所述點源角反射器陣列的RCS俯仰向分布均勻性評估為通過。
如需購買、轉讓、實施、許可或投資類似專利技術,可聯系本專利的申請人或專利權人北京環境特性研究所,其通訊地址為:100854 北京市海淀區永定路50號;或者聯系龍圖騰網官方客服,聯系龍圖騰網可撥打電話0551-65771310或微信搜索“龍圖騰網”。
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