均華精密工業股份有限公司石敦智獲國家專利權
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龍圖騰網獲悉均華精密工業股份有限公司申請的專利黏晶機的定位系統、定位裝置以及黏晶機置放晶粒方法獲國家發明授權專利權，本發明授權專利權由國家知識產權局授予，授權公告號為：CN114496831B 。
龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-07-04發布的發明授權授權公告中獲悉：該發明授權的專利申請號/專利號為：202011166976.8，技術領域涉及：H01L21/67；該發明授權黏晶機的定位系統、定位裝置以及黏晶機置放晶粒方法是由石敦智;林語尚;林逸倫;高為翰設計研發完成，并于2020-10-27向國家知識產權局提交的專利申請。
本黏晶機的定位系統、定位裝置以及黏晶機置放晶粒方法在說明書摘要公布了：一種黏晶機置放晶粒方法，包括以下步驟：分別配置基板與定位元件于載臺的第一面與第二面；分別采集取放裝置上的晶粒的晶粒圖像信息以及已知特征信息的定位圖像信息；比較晶粒的晶粒圖像信息與定位圖像信息。依據定位圖像信息來決定晶粒于基板對應的晶粒位置，通過取放裝置置放晶粒于基板對應的晶粒位置。此外，一種黏晶機的定位系統與黏晶機的定位裝置亦被提出。
本發明授權黏晶機的定位系統、定位裝置以及黏晶機置放晶粒方法在權利要求書中公布了：1.一種黏晶機的定位系統，適用于多個晶粒，其特征在于，該黏晶機的定位系統包括： 一載臺，包括相對的一第一面與一第二面； 一基板，設置于該載臺的該第一面； 一取放裝置，用以將各個所述晶粒置放于該基板對應的一晶粒位置； 一定位元件，設置于該載臺的該第二面，該定位元件包括多個已知特征信息； 一晶粒采集元件，用以采集該取放裝置上的各個所述晶粒的一晶粒圖像信息； 一特征采集元件，設置于該載臺的該第二面的相對側，用以采集各個所述已知特征信息的一定位圖像信息；以及 一控制單元，用以連接該載臺、該取放裝置、該晶粒采集元件與該特征采集元件，該控制單元接收并比較各個所述晶粒的該晶粒圖像信息與對應的該定位圖像信息，且該控制單元依據各個所述定位圖像信息來決定各個所述晶粒對應的該晶粒位置，使該取放裝置將各個所述晶粒置放于該基板對應的該晶粒位置。
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2、報告中的分析和結論僅反映本公司于發布本報告當日的職業理解，僅供參考使用，不能作為本公司承擔任何法律責任的依據或者憑證。
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