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龍圖騰網恭喜佳能株式會社申請的專利調色劑和調色劑的生產方法獲國家發明授權專利權，本發明授權專利權由國家知識產權局授予，授權公告號為：CN113448199B 。

龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-06-17發布的發明授權授權公告中獲悉：該發明授權的專利申請號/專利號為：202110313996.1，技術領域涉及：G03G9/08；該發明授權調色劑和調色劑的生產方法是由豐泉悟崇設計研發完成，并于2021-03-24向國家知識產權局提交的專利申請。

本調色劑和調色劑的生產方法在說明書摘要公布了：本發明涉及一種調色劑和調色劑的生產方法。一種調色劑，其包括包含調色劑基礎顆粒和存在于調色劑基礎顆粒表面上的最外層的調色劑顆粒，調色劑基礎顆粒包含粘結劑樹脂，其中多個凹部形成在調色劑顆粒表面上，并且當Tnm為用TEM觀察的調色劑顆粒的截面分析中最外層的平均厚度時，并且當通過使用SPM從最外層的最外表面朝向調色劑顆粒中心測量調色劑顆粒上的凹部時，anm為各凹部的長徑、bnm為各凹部的短徑和dnm為各凹部的深度時，當“n”表示每1μm2調色劑顆粒表面上滿足特定關系的凹部的個數時，n為30至200。

本發明授權調色劑和調色劑的生產方法在權利要求書中公布了：1.一種調色劑，其包括調色劑顆粒，所述調色劑顆粒包含調色劑基礎顆粒和存在于所述調色劑基礎顆粒的表面上的最外層，所述調色劑基礎顆粒包含粘結劑樹脂，其特征在于， 多個凹部形成在所述調色劑顆粒的表面上，和 T為在用透射電子顯微鏡觀察的所述調色劑顆粒的截面分析中，所述最外層的平均厚度，和 通過使用掃描探針顯微鏡從所述最外層的最外表面朝向所述調色劑顆粒的中心測量所述調色劑顆粒上的所述凹部，a為各所述凹部的長徑，b為各所述凹部的短徑，和d為各所述凹部的深度，其中，a、b、d、T的單位均為nm， “n”表示每1μm2所述調色劑顆粒的表面上滿足下式1至3的所述凹部的個數，“n”滿足下式4： 50.0nm≤a≤200.0nm1 10.0nm≤b≤70.0nm2 0.7×T≤d≤1.5×T3 30≤n≤2004， 其中所述最外層的平均厚度T為5.0nm至100.0nm， 所述最外層的平均厚度T的測量方法如下： 使用透射電子顯微鏡TEM將調色劑顆粒的樣品放大100,000倍，在單個調色劑顆粒上的四個隨機選擇的位置處測量最外層的厚度，使用該方法在50個調色劑顆粒上進行截面的檢查，并且將總計200個位置的算術平均值用作平均厚度T； 所述凹部的長徑a、所述凹部的短徑b、所述凹部的深度d、所述凹部的個數n的測量方法如下： 使用掃描探針顯微鏡SPM將調色劑顆粒表面放大至1μm×1μm，并且觀察最外層中的凹部，測量之后，對獲得的1μm×1μm測量數據進行傾斜校正然后計算平均表面粗糙度，平均表面粗糙度是指對于從調色劑顆粒最外層的最外表面朝向調色劑顆粒的中心的測量，在1μm×1μm凹部深度的算術平均值，即最外層中凹部的深度d1；用上述方法對50個調色劑顆粒，測定凹部的深度d1至d50，并且將d1至d50的算術平均值作為凹部的深度d； 輸出通過上述測量提供的傾斜校正的測量數據，測定在每1μm×1μm調色劑顆粒表面的凹部的長徑和凹部的短徑的算術平均值，并且分別指定為凹部的長徑a1和凹部的短徑b1，用上述方法對50個調色劑顆粒測定凹部的長徑a1至a50和凹部的短徑b1至b50，并且將它們的算術平均值分別指定為凹部的長徑a和凹部的短徑b； 輸出通過上述測量提供的傾斜校正的測量數據；查看1μm×1μm中凹部的長徑a、凹部的短徑b、和凹部的深度d；并且計數在各情況下在每1μm×1μm調色劑顆粒表面滿足式1至3的凹部的個數“n1”，用上述方法對50個調色劑顆粒計數滿足式1至3的凹部的個數n1至n50，并且將它們的算術平均值指定為凹部的個數“n”， 所述最外層包含熱塑性樹脂或熱固性樹脂，所述熱塑性樹脂包含苯乙烯-丙烯酸系樹脂，所述熱固性樹脂包含三聚氰胺系樹脂。

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