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龍圖騰網恭喜住友化學株式會社申請的專利檢查方法獲國家發明授權專利權，本發明授權專利權由國家知識產權局授予，授權公告號為：CN115867779B 。

龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-06-17發布的發明授權授權公告中獲悉：該發明授權的專利申請號/專利號為：202180046788.8，技術領域涉及：G01M11/00；該發明授權檢查方法是由小林信次;松田俊介設計研發完成，并于2021-08-19向國家知識產權局提交的專利申請。

本檢查方法在說明書摘要公布了：本發明提供對具備圓偏振板1以及由聚對苯二甲酸乙二醇酯系樹脂構成的剝離膜16a的膜狀的被檢查物10有無缺陷進行判斷的檢查方法。將光源2、第一相位差濾光片3A、第一相位差板4A、被檢查物10、第二相位差板4B以及第二相位差濾光片3B設為規定的配置，對被被檢查物10反射的光進行觀察，從而判斷圓偏振板1有無缺陷。接著，將第一相位差板4A以及第二相位差板4B分別置換為相對于波長550nm的光的面內相位差值不同的第三相位差板以及第四相位差板，并再次使光入射，從而判斷圓偏振板1有無缺陷。利用該檢查方法也能夠容易地檢測出利用透射型的檢查方法難以檢測出的變形缺陷。

本發明授權檢查方法在權利要求書中公布了：1.一種檢查方法，其是對具備層疊偏振膜和相位差膜而成的圓偏振板、以及層疊在所述圓偏振板的所述相位差膜側且由聚對苯二甲酸乙二醇酯系樹脂構成的剝離膜的膜狀的被檢查物有無缺陷進行判斷的檢查方法，其中， 以將光源、第一相位差濾光片、第一相位差板、以及使所述剝離膜側朝向所述第一相位差板側的所述被檢查物在所述光源所發出的光的光路上依次排列、并且將第二相位差板、以及與所述第一相位差濾光片構成正交尼科耳狀態的第二相位差濾光片在被所述被檢查物反射的所述光的光路上依次排列的方式進行配置， 所述第一相位差板的相對于波長550nm的光的面內相位差值與所述剝離膜的相對于波長550nm的光的面內相位差值大致相同，且所述第一相位差板對所述剝離膜所具有的雙折射進行補償， 所述第二相位差板的相對于波長550nm的光的面內相位差值與所述第一相位差板的相對于波長550nm的光的面內相位差值大致相同，且所述第二相位差板對所述第一相位差板所具有的雙折射進行補償， 所述大致相同是指二者的差值的絕對值為5nm以下， 使所述光源的光向所述第一相位差濾光片入射，從所述第二相位差濾光片側對被所述被檢查物反射的所述光進行觀察，從而判斷所述圓偏振板有無缺陷， 將所述第一相位差板以及所述第二相位差板分別置換為第三相位差板以及第四相位差板， 所述第三相位差板以及所述第四相位差板的相對于波長550nm的光的面內相位差值比所述剝離膜的相對于波長550nm的光的面內相位差值大50~100nm，且所述第三相位差板以及所述第四相位差板對所述剝離膜所具有的雙折射進行補償， 在該置換后，使光向所述第一相位差濾光片入射，從所述第二相位差濾光片側對被所述被檢查物反射的所述光進行觀察，從而判斷所述圓偏振板有無缺陷。

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