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龍圖騰網恭喜山西大威激光科技有限公司申請的專利一種基于干涉方式的激光波長測量裝置與方法獲國家發明授權專利權，本發明授權專利權由國家知識產權局授予，授權公告號為：CN110779629B 。

龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-05-30發布的發明授權授權公告中獲悉：該發明授權的專利申請號/專利號為：201911173953.7，技術領域涉及：G01J9/02；該發明授權一種基于干涉方式的激光波長測量裝置與方法是由趙虎;毛建東;周春艷;張白設計研發完成，并于2019-11-26向國家知識產權局提交的專利申請。

本一種基于干涉方式的激光波長測量裝置與方法在說明書摘要公布了：本發明涉及一種基于干涉方式的激光波長測量裝置與方法，包括：待測激光源，用于發射待測激光束；分光鏡，用于接收待測激光束，并將待測激光束透射至楔形反光鏡，以及反射至透鏡；楔形反光鏡，用于將分光鏡透射的待測激光束反射至透鏡；透鏡，用于接收分光鏡和楔形反光鏡反射的待測激光束，并將待測激光束透射至光電探測器；光電探測器，用于接收透鏡透射的待測激光束；處理器，與光電探測器電連接，用于檢測光電探測器上產生的干涉現象。本發明中測量裝置所使用的光學器件簡單，無需標準波長激光源參與測量，大大降低了測量裝置的復雜度，并且也提高了裝置對待測激光波長的測量精度。

本發明授權一種基于干涉方式的激光波長測量裝置與方法在權利要求書中公布了：1.一種基于干涉方式的激光波長測量方法，其特征在于：基于干涉方式的激光波長測量裝置實現，所述裝置包括：待測激光源，用于發射待測激光束；分光鏡，設置于待測激光源與楔形反光鏡之間，用于接收待測激光束，并將待測激光束透射至楔形反光鏡，以及反射至透鏡；楔形反光鏡，用于將分光鏡透射的待測激光束反射至透鏡；透鏡，用于接收分光鏡和楔形反光鏡反射的待測激光束，并將待測激光束透射至光電探測器；光電探測器，設置于透鏡的焦點處，用于接收透鏡透射的待測激光束；處理器，與光電探測器電連接，用于檢測光電探測器上產生的干涉現象；所述楔形反光鏡連接有精密位移裝置，用于帶動楔形反光鏡在其水平方向垂直方向上移動；所述楔形反光鏡包括反光面，所述分光鏡與楔形反光鏡的反光面平行設置；所述方法包括以下步驟：步驟S1：將待測激光源、分光鏡、透鏡、光電探測器以及精密位移裝置固定設置在殼體內；步驟S2：開啟待測激光源，移動楔形反光鏡的位置，使得楔形反光鏡能接收到待測激光束；步驟S3：控制精密位移裝置帶動楔形反光鏡在水平方向垂直方向上移動，使得光電探測器上產生相長干涉相消干涉現象，處理器記錄楔形反光鏡的位移量X1；步驟S4：繼續控制精密位移裝置帶動楔形反光鏡在水平方向垂直方向上移動，直到光電探測器上產生下一個相長干涉相消干涉現象，處理器記錄楔形反光鏡的位移量X2；步驟S5：處理器根據楔形反光鏡兩次水平移動垂直移動的位移量以及楔形反光鏡的反光面與水平方向上的角度、入射至反光面的待測激光束與反光面的角度，計算出待測激光束的波長。

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