恭喜高通股份有限公司V·拉加萬獲國家專利權
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龍圖騰網恭喜高通股份有限公司申請的專利用于多TRP天線校準的測量間隙配置獲國家發明授權專利權,本發明授權專利權由國家知識產權局授予,授權公告號為:CN115699622B 。
龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-05-27發布的發明授權授權公告中獲悉:該發明授權的專利申請號/專利號為:202180041005.7,技術領域涉及:H04B17/12;該發明授權用于多TRP天線校準的測量間隙配置是由V·拉加萬;駱濤;厲鐫懌設計研發完成,并于2021-05-28向國家知識產權局提交的專利申請。
本用于多TRP天線校準的測量間隙配置在說明書摘要公布了:基站可以基于對一個或多個用戶設備UE的測量來在兩個或更多個發送接收點TRP處執行天線元件的在線校準。基站可以發送針對一個或多個UE在測量間隙期間針對兩個或更多個TRP執行天線校準測量的請求。基站可以在測量間隙期間在兩個或更多個TRP之間協調對參考信號的傳輸。基站可以從一個或多個UE接收基于天線校準測量的報告。基站可以基于天線校準測量來校準兩個或更多個TRP的一個或多個天線元件。
本發明授權用于多TRP天線校準的測量間隙配置在權利要求書中公布了:1.一種無線通信的方法,包括:發送針對一個或多個用戶設備UE在測量間隙期間針對兩個或更多個發送接收點TRP執行天線校準測量的請求,其中,所述請求包括用于對從所述兩個或更多個TRP中所有TRP到所述一個或多個UE的參考信號的聯合傳輸進行接收的聯合準同址QCL映射;基于所述聯合QCL映射,在所述測量間隙期間在所述兩個或更多個TRP之間協調對從所述兩個或更多個TRP中所有TRP進行的參考信號的聯合傳輸;從所述一個或多個UE接收基于所述天線校準測量的報告;以及基于所述天線校準測量來校準所述兩個或更多個TRP的一個或多個天線元件。
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