恭喜株式會社半導體能源研究所門馬洋平獲國家專利權
買專利賣專利找龍圖騰，真高效！ 查專利查商標用IPTOP,全免費！專利年費監控用IP管家,真方便！
龍圖騰網恭喜株式會社半導體能源研究所申請的專利正極活性物質、正極活性物質的制造方法及二次電池獲國家發明授權專利權，本發明授權專利權由國家知識產權局授予，授權公告號為：CN111916714B 。
龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-06-17發布的發明授權授權公告中獲悉：該發明授權的專利申請號/專利號為：202010863406.8，技術領域涉及：H01M4/36；該發明授權正極活性物質、正極活性物質的制造方法及二次電池是由門馬洋平;川上貴洋;落合輝明;高橋正弘設計研發完成，并于2017-11-17向國家知識產權局提交的專利申請。
本正極活性物質、正極活性物質的制造方法及二次電池在說明書摘要公布了：本發明涉及鋰離子二次電池、混合動力汽車、電動汽車及插電式混合動力汽車。鋰離子二次電池包括正極和負極，其中，所述正極包括包含鈷的正極活性物質，所述正極活性物質在表層部包含所述鈷、鋁及氟，在所述表層部中，所述鋁具有濃度梯度，并且，在利用能量分散型X射線分析的線分析結果中，所述氟具有：在比所述鋁具有的峰值更接近所述正極活性物質的表面的區域被檢出的峰值。
本發明授權正極活性物質、正極活性物質的制造方法及二次電池在權利要求書中公布了：1.一種鋰離子二次電池， 包括包含正極活性物質粒子的正極， 所述正極活性物質粒子包含第一區域、表面附近的第二區域和表面附近的第三區域， 所述第一區域包含鋰、鈷及氧， 所述第二區域包含鋰、鋁、鈷及氧， 所述第三區域包含鎂及氧， 鋁的濃度的峰值出現在從所述正極活性物質粒子的表面深度0.5nm以上且20nm以下的范圍， 所述第二區域為用STEM-EDX的線分析所檢測出的鋁的濃度為鋁的濃度的所述峰值的12以上的區域， 所述第三區域為用STEM-EDX的線分析所檢測出的鎂的濃度為鎂的濃度的峰值的15以上的區域， 所述第二區域具有從所述正極活性物質粒子的表面比所述第三區域深的區域， 所述第三區域具有巖鹽型結晶結構。
如需購買、轉讓、實施、許可或投資類似專利技術，可聯系本專利的申請人或專利權人株式會社半導體能源研究所，其通訊地址為：日本神奈川；或者聯系龍圖騰網官方客服，聯系龍圖騰網可撥打電話0551-65771310或微信搜索“龍圖騰網”。
免責聲明
1、本報告根據公開、合法渠道獲得相關數據和信息，力求客觀、公正，但并不保證數據的最終完整性和準確性。
2、報告中的分析和結論僅反映本公司于發布本報告當日的職業理解，僅供參考使用，不能作為本公司承擔任何法律責任的依據或者憑證。
1、本報告根據公開、合法渠道獲得相關數據和信息，力求客觀、公正，但并不保證數據的最終完整性和準確性。
2、報告中的分析和結論僅反映本公司于發布本報告當日的職業理解，僅供參考使用，不能作為本公司承擔任何法律責任的依據或者憑證。
開放平臺
擔保交易
惠及多方
會員特惠
專屬平臺
適合多方
數據共享
功能齊全
皖公網安備 34010402703815號