恭喜敏業信息科技(上海)有限公司黃小文獲國家專利權
買專利賣專利找龍圖騰，真高效！ 查專利查商標用IPTOP,全免費！專利年費監控用IP管家,真方便！
龍圖騰網恭喜敏業信息科技(上海)有限公司申請的專利磁性器件磁導率的測試裝置和測試方法獲國家發明授權專利權，本發明授權專利權由國家知識產權局授予，授權公告號為：CN115639507B 。
龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-05-27發布的發明授權授權公告中獲悉：該發明授權的專利申請號/專利號為：202110814634.0，技術領域涉及：G01R33/12；該發明授權磁性器件磁導率的測試裝置和測試方法是由黃小文設計研發完成，并于2021-07-19向國家知識產權局提交的專利申請。
本磁性器件磁導率的測試裝置和測試方法在說明書摘要公布了：本發明提供了一種磁性器件磁導率的測試裝置和測試方法。磁導率的測試裝置包括：夾具，用于夾持磁性器件，磁性器件包括由單匝線圈穿過的磁環；測量儀器，用于測量磁性器件的插入損耗或S21參數；以及上位機，連接測量儀器，用于接收插入損耗或S21參數，使用插入損耗且根據單匝線圈時插入損耗與磁導率的換算公式計算磁導率，或者使用S21參數根據單匝線圈時S21參數與磁導率的換算公式計算磁導率。本發明的磁性器件磁導率的測試裝置和測試方法，可以簡單方便的測試磁導率，降低測試成本。
本發明授權磁性器件磁導率的測試裝置和測試方法在權利要求書中公布了：1.一種磁性器件磁導率的測試裝置，包括：夾具，用于夾持磁性器件，所述磁性器件包括由單匝線圈穿過的磁環；測量儀器，用于測量所述磁性器件的插入損耗或S21參數；以及上位機，連接所述測量儀器，用于接收所述插入損耗或S21參數，使用所述插入損耗且根據單匝線圈時插入損耗與磁導率的換算公式計算磁導率，或者使用所述S21參數且根據單匝線圈時S21參數與磁導率的換算公式計算磁導率，其中所述單匝線圈時插入損耗與磁導率的換算公式為： 或者： 其中μ為磁導率，le為所述磁環的有效磁路長度，Ae為所述磁環的有效截面積，D為所述磁環的外徑，d為所述磁環的內徑，h為所述磁環的高度，f為測量信號的頻率以及IL為插入損耗。
如需購買、轉讓、實施、許可或投資類似專利技術，可聯系本專利的申請人或專利權人敏業信息科技(上海)有限公司，其通訊地址為：201201 上海市浦東新區錦繡東路1999號523室；或者聯系龍圖騰網官方客服，聯系龍圖騰網可撥打電話0551-65771310或微信搜索“龍圖騰網”。
免責聲明
1、本報告根據公開、合法渠道獲得相關數據和信息，力求客觀、公正，但并不保證數據的最終完整性和準確性。
2、報告中的分析和結論僅反映本公司于發布本報告當日的職業理解，僅供參考使用，不能作為本公司承擔任何法律責任的依據或者憑證。
1、本報告根據公開、合法渠道獲得相關數據和信息，力求客觀、公正，但并不保證數據的最終完整性和準確性。
2、報告中的分析和結論僅反映本公司于發布本報告當日的職業理解，僅供參考使用，不能作為本公司承擔任何法律責任的依據或者憑證。
開放平臺
擔保交易
惠及多方
會員特惠
專屬平臺
適合多方
數據共享
功能齊全
皖公網安備 34010402703815號