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龍圖騰網(wǎng)恭喜深南電路股份有限公司申請(qǐng)的專利電路板阻抗的檢測(cè)方法以及測(cè)試用電路板獲國家發(fā)明授權(quán)專利權(quán)，本發(fā)明授權(quán)專利權(quán)由國家知識(shí)產(chǎn)權(quán)局授予，授權(quán)公告號(hào)為：CN112444712B 。

龍圖騰網(wǎng)通過國家知識(shí)產(chǎn)權(quán)局官網(wǎng)在2025-05-23發(fā)布的發(fā)明授權(quán)授權(quán)公告中獲悉：該發(fā)明授權(quán)的專利申請(qǐng)?zhí)?專利號(hào)為：201910798521.9，技術(shù)領(lǐng)域涉及：G01R31/28；該發(fā)明授權(quán)電路板阻抗的檢測(cè)方法以及測(cè)試用電路板是由李智;韓雪川;崔榮設(shè)計(jì)研發(fā)完成，并于2019-08-27向國家知識(shí)產(chǎn)權(quán)局提交的專利申請(qǐng)。

本電路板阻抗的檢測(cè)方法以及測(cè)試用電路板在說明書摘要公布了：本申請(qǐng)公開了一種電路板阻抗的檢測(cè)方法以及測(cè)試用電路板，該電路板阻抗的檢測(cè)方法包括：提供一電路板，電路板包括內(nèi)部信號(hào)層，內(nèi)部信號(hào)層設(shè)有阻抗測(cè)試線；加工測(cè)試孔以裸露出阻抗測(cè)試線的至少部分；將阻抗測(cè)試設(shè)備的測(cè)試探針伸入測(cè)試孔而與裸露的阻抗測(cè)試線電連接，進(jìn)而進(jìn)行阻抗測(cè)試。本申請(qǐng)所提供的電路板阻抗的檢測(cè)方法能夠減少電路板第一次阻抗確認(rèn)的時(shí)間，提高競(jìng)爭(zhēng)力。

本發(fā)明授權(quán)電路板阻抗的檢測(cè)方法以及測(cè)試用電路板在權(quán)利要求書中公布了：1.一種電路板阻抗的檢測(cè)方法，其特征在于，所述檢測(cè)方法包括：提供一電路板，所述電路板包括內(nèi)部信號(hào)層，所述內(nèi)部信號(hào)層設(shè)有阻抗測(cè)試線；加工測(cè)試孔以裸露出所述阻抗測(cè)試線的至少部分；將阻抗測(cè)試設(shè)備的測(cè)試探針伸入所述測(cè)試孔而與裸露的所述阻抗測(cè)試線電連接，進(jìn)而進(jìn)行阻抗測(cè)試；其中，所述電路板還包括表層信號(hào)層，所述表層信號(hào)層設(shè)置于所述電路板的表層；所述將阻抗測(cè)試設(shè)備的測(cè)試探針伸入所述測(cè)試孔而與裸露的所述阻抗測(cè)試線電連接，進(jìn)而進(jìn)行阻抗測(cè)試的步驟中，包括：當(dāng)所述測(cè)試探針伸入所述測(cè)試孔中時(shí)，所述測(cè)試探針與所述表層信號(hào)層之間具有一預(yù)定距離；所述阻抗測(cè)試線包括連接的阻抗測(cè)試盤以及阻抗測(cè)試條，所述阻抗測(cè)試盤的直徑大于所述阻抗測(cè)試條的寬度；所述加工測(cè)試孔以裸露出所述阻抗測(cè)試線的至少部分的步驟，包括：加工所述測(cè)試孔以裸露出所述阻抗測(cè)試盤的至少部分。

如需購買、轉(zhuǎn)讓、實(shí)施、許可或投資類似專利技術(shù)，可聯(lián)系本專利的申請(qǐng)人或?qū)＠麢?quán)人深南電路股份有限公司，其通訊地址為：518000 廣東省深圳市南山區(qū)僑城東路99號(hào)；或者聯(lián)系龍圖騰網(wǎng)官方客服，聯(lián)系龍圖騰網(wǎng)可撥打電話0551-65771310或微信搜索“龍圖騰網(wǎng)”。