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龍圖騰網(wǎng)恭喜哈爾濱工業(yè)大學(xué)申請(qǐng)的專利基于深度學(xué)習(xí)算法的表面缺陷檢測(cè)方法獲國(guó)家發(fā)明授權(quán)專利權(quán)，本發(fā)明授權(quán)專利權(quán)由國(guó)家知識(shí)產(chǎn)權(quán)局授予，授權(quán)公告號(hào)為：CN115205275B 。

龍圖騰網(wǎng)通過(guò)國(guó)家知識(shí)產(chǎn)權(quán)局官網(wǎng)在2025-05-23發(fā)布的發(fā)明授權(quán)授權(quán)公告中獲悉：該發(fā)明授權(quán)的專利申請(qǐng)?zhí)?專利號(hào)為：202210889914.2，技術(shù)領(lǐng)域涉及：G06T7/00；該發(fā)明授權(quán)基于深度學(xué)習(xí)算法的表面缺陷檢測(cè)方法是由董航程;劉國(guó)棟;劉炳國(guó);高卓;黃穎妍;廖敬驍設(shè)計(jì)研發(fā)完成，并于2022-07-27向國(guó)家知識(shí)產(chǎn)權(quán)局提交的專利申請(qǐng)。

本基于深度學(xué)習(xí)算法的表面缺陷檢測(cè)方法在說(shuō)明書摘要公布了：基于深度學(xué)習(xí)算法的表面缺陷檢測(cè)方法，解決了現(xiàn)有采用深度學(xué)習(xí)算法進(jìn)行表面缺陷檢測(cè)時(shí)存在樣本不均衡的問(wèn)題，屬于工業(yè)生產(chǎn)中檢測(cè)技術(shù)領(lǐng)域。本發(fā)明包括：基于深度學(xué)習(xí)算法建立表面缺陷分類模型，利用初始訓(xùn)練樣本集D1對(duì)表面缺陷分類模型進(jìn)行訓(xùn)練；對(duì)D1中各類表面缺陷圖像樣本進(jìn)行采樣，獲得均衡圖像樣本集D2，利用D2繼續(xù)對(duì)表面缺陷分類模型進(jìn)行訓(xùn)練，訓(xùn)練過(guò)程中，凍結(jié)表面缺陷分類模型中卷積層的參數(shù)，調(diào)整全連接層的參數(shù)，直至表面缺陷分類模型收斂；利用表面缺陷分類模型對(duì)待檢測(cè)圖像樣本進(jìn)行檢測(cè)，計(jì)算弱監(jiān)督定位信息；并進(jìn)行閾值分割處理，利用二值化閾值，生成缺陷的位置掩膜，完成表面缺陷檢測(cè)。

本發(fā)明授權(quán)基于深度學(xué)習(xí)算法的表面缺陷檢測(cè)方法在權(quán)利要求書中公布了：1.基于深度學(xué)習(xí)算法的表面缺陷檢測(cè)方法，其特征在于，所述方法包括：S1、基于深度學(xué)習(xí)算法建立表面缺陷分類模型，對(duì)表面缺陷分類模型進(jìn)行訓(xùn)練；S2、對(duì)各類樣本進(jìn)行m次采樣，獲得m個(gè)均衡樣本集，利用m個(gè)均衡樣本集分別對(duì)S1的表面缺陷分類模型進(jìn)行訓(xùn)練，獲得m個(gè)表面缺陷分類模型，訓(xùn)練過(guò)程中，凍結(jié)表面缺陷分類模型中卷積層的參數(shù)，調(diào)整全連接層的參數(shù)，直至表面缺陷分類模型收斂；a1表示最多的一類樣本的數(shù)量，αn表示最少的一類樣本的數(shù)量；使用集成方法，統(tǒng)計(jì)m個(gè)表面缺陷分類模型的分類結(jié)果，輸出最終的缺陷分類類別；S3、利用m個(gè)表面缺陷分類模型對(duì)待檢測(cè)圖像樣本進(jìn)行檢測(cè)，確定缺陷分類類別，計(jì)算m個(gè)表面缺陷分類模型中召回率最高的表面缺陷分類模型的弱監(jiān)督定位信息；S4、對(duì)S3計(jì)算的弱監(jiān)督定位信息進(jìn)行閾值分割處理，利用二值化閾值，生成缺陷的位置掩膜，完成表面缺陷檢測(cè)；所述S2中，獲得均衡樣本集的方法包括：初始訓(xùn)練樣本集D1，共有n類樣本，每類樣本數(shù)量為α1,α2,…αn，α1α2…αn，則對(duì)每一類樣本，都隨機(jī)抽取αm張子樣本，形成均衡樣本集D2，αm≤αn；S3中，使用全梯度方法計(jì)算表面缺陷分類模型的弱監(jiān)督定位信息S： 其中，F(xiàn)表示表面缺陷分類模型，是第l層第c個(gè)通道的輸出，是相應(yīng)的偏置，L是卷積層的總層數(shù)，cl是第l層卷積核的通道數(shù)，x表示輸入的待檢測(cè)圖像樣本，⊙表示同或運(yùn)算，函數(shù)φ·是指：φ·＝upsamplerescaleabs·abs·指絕對(duì)值函數(shù)，rescale·指歸一化操作，將輸入歸一化到0-1之間，upsample·表示上采樣操作，用于將輸入插值到與x同一維度。

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