恭喜杰平方半導體(上海)有限公司羅標獲國家專利權
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龍圖騰網恭喜杰平方半導體(上海)有限公司申請的專利一種用于高溫鍍膜的無校準測溫系統獲國家實用新型專利權，本實用新型專利權由國家知識產權局授予，授權公告號為：CN222887584U 。
龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-05-20發布的實用新型授權公告中獲悉：該實用新型的專利申請號/專利號為：202421524763.1，技術領域涉及：G01K11/32；該實用新型一種用于高溫鍍膜的無校準測溫系統是由羅標;周正東;劉立安設計研發完成，并于2024-06-28向國家知識產權局提交的專利申請。
本一種用于高溫鍍膜的無校準測溫系統在說明書摘要公布了：本實用新型公開了一種用于高溫鍍膜的無校準測溫系統，屬于半導體鍍膜技術領域，該用于高溫鍍膜的無校準測溫系統，包括生長組件、光纖和激光測溫計，所述生長組件用于布置待鍍膜的半導體襯底，所述生長組件上開設有測溫孔，所述光纖的一端與所述激光測溫計的激光發射端連接，另一端與所述測溫孔相連。通過光纖搭建激光測溫計和測溫孔之間光束通道，激光測溫計發出的激光能夠在光纖中經過全反射到達測溫孔，增加光纖后，激光測溫計發出的激光能夠一直到達測溫孔，所測得的溫度結果準確且穩定地反映了測溫孔的溫度，消除了校準操作中的不穩定性。
本實用新型一種用于高溫鍍膜的無校準測溫系統在權利要求書中公布了：1.一種用于高溫鍍膜的無校準測溫系統，其特征在于，包括生長組件、光纖和激光測溫計，所述生長組件用于布置待鍍膜的半導體襯底，所述生長組件上開設有測溫孔，所述光纖的一端與所述激光測溫計的激光發射端連接，另一端與所述測溫孔相連。
如需購買、轉讓、實施、許可或投資類似專利技術，可聯系本專利的申請人或專利權人杰平方半導體(上海)有限公司，其通訊地址為：201203 上海市浦東新區中國(上海)自由貿易試驗區盛夏路169號、張東路1658號1幢4層401室；或者聯系龍圖騰網官方客服，聯系龍圖騰網可撥打電話0551-65771310或微信搜索“龍圖騰網”。
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1、本報告根據公開、合法渠道獲得相關數據和信息，力求客觀、公正，但并不保證數據的最終完整性和準確性。
2、報告中的分析和結論僅反映本公司于發布本報告當日的職業理解，僅供參考使用，不能作為本公司承擔任何法律責任的依據或者憑證。
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