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當(dāng)前位置 : 首頁 > 專利喜報 > 浙江大學(xué);浙江創(chuàng)芯集成電路有限公司陳一寧獲國家專利權(quán)

浙江大學(xué);浙江創(chuàng)芯集成電路有限公司陳一寧獲國家專利權(quán)

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龍圖騰網(wǎng)獲悉浙江大學(xué);浙江創(chuàng)芯集成電路有限公司申請的專利一種自監(jiān)督加強的半監(jiān)督的晶圓失效預(yù)測方法及系統(tǒng)獲國家發(fā)明授權(quán)專利權(quán),本發(fā)明授權(quán)專利權(quán)由國家知識產(chǎn)權(quán)局授予,授權(quán)公告號為:CN119557571B

龍圖騰網(wǎng)通過國家知識產(chǎn)權(quán)局官網(wǎng)在2025-05-20發(fā)布的發(fā)明授權(quán)授權(quán)公告中獲悉:該發(fā)明授權(quán)的專利申請?zhí)?專利號為:202510132618.1,技術(shù)領(lǐng)域涉及:G06F18/10;該發(fā)明授權(quán)一種自監(jiān)督加強的半監(jiān)督的晶圓失效預(yù)測方法及系統(tǒng)是由陳一寧;郭龐;高大為;陳鼎崴設(shè)計研發(fā)完成,并于2025-02-06向國家知識產(chǎn)權(quán)局提交的專利申請。

一種自監(jiān)督加強的半監(jiān)督的晶圓失效預(yù)測方法及系統(tǒng)在說明書摘要公布了:本發(fā)明公開了一種自監(jiān)督加強的半監(jiān)督的晶圓失效預(yù)測方法及系統(tǒng),屬于晶圓失效檢測領(lǐng)域。獲取晶圓可接受性測試探針測試數(shù)據(jù)構(gòu)造訓(xùn)練集;對晶圓特征編碼器進行自監(jiān)督預(yù)訓(xùn)練;利用預(yù)訓(xùn)練晶圓特征編碼器生成各樣本的原始晶圓編碼特征,并分別添加強弱噪聲,添加強噪聲時引入數(shù)據(jù)增強約束并計算損失;將添加強弱噪聲前后的晶圓編碼特征分別利用晶圓失效分類器預(yù)測晶圓是否失效,計算一致性損失;此外還需要計算少量有標(biāo)簽數(shù)據(jù)的監(jiān)督損失;通過聯(lián)合上述損失對預(yù)訓(xùn)練晶圓特征編碼器和晶圓失效分類器進行半監(jiān)督訓(xùn)練,半監(jiān)督訓(xùn)練后的模型用于實際晶圓失效檢測。本發(fā)明充分利用大量晶圓無標(biāo)簽數(shù)據(jù)和少量晶圓有標(biāo)簽數(shù)據(jù),提高了晶圓失效的預(yù)測準(zhǔn)確率。

本發(fā)明授權(quán)一種自監(jiān)督加強的半監(jiān)督的晶圓失效預(yù)測方法及系統(tǒng)在權(quán)利要求書中公布了:1.一種自監(jiān)督加強的半監(jiān)督的晶圓失效預(yù)測方法,其特征在于,包括:獲取晶圓可接受性測試數(shù)據(jù)和探針測試數(shù)據(jù),預(yù)處理并匹配數(shù)據(jù),得到有標(biāo)簽晶圓樣本和無標(biāo)簽晶圓樣本作為訓(xùn)練集;利用訓(xùn)練集對晶圓特征編碼器進行自監(jiān)督掩碼預(yù)訓(xùn)練,得到預(yù)訓(xùn)練晶圓特征編碼器;利用預(yù)訓(xùn)練晶圓特征編碼器生成訓(xùn)練集中各樣本的原始晶圓編碼特征,對原始晶圓編碼特征分別添加強噪聲和弱噪聲;對所述的原始晶圓編碼特征添加強噪聲時引入數(shù)據(jù)增強約束,計算數(shù)據(jù)增強約束損失;所述的數(shù)據(jù)增強約束損失如下: 其中,Lr表示數(shù)據(jù)增強約束損失,xi表示訓(xùn)練集中的原始樣本i,xg表示強增強噪聲樣本,表示L2范數(shù)的平方,l表示預(yù)訓(xùn)練晶圓特征編碼器生成的編碼特征維度,分別表示原始樣本i經(jīng)過預(yù)訓(xùn)練晶圓特征編碼器生成的編碼特征第j維的方差和均值,α、β表示預(yù)設(shè)的超參數(shù),N表示訓(xùn)練集中的原始樣本數(shù)量;將原始晶圓編碼特征、添加強噪聲后的強增強晶圓編碼特征、添加弱噪聲后的弱增強晶圓編碼特征分別利用晶圓失效分類器預(yù)測晶圓是否失效,根據(jù)失效預(yù)測結(jié)果計算一致性損失和監(jiān)督損失;所述的監(jiān)督損失僅針對訓(xùn)練集中的有標(biāo)簽晶圓樣本;聯(lián)合所述的數(shù)據(jù)增強約束損失、一致性損失和監(jiān)督損失對預(yù)訓(xùn)練晶圓特征編碼器和晶圓失效分類器進行半監(jiān)督訓(xùn)練,利用半監(jiān)督訓(xùn)練后的預(yù)訓(xùn)練晶圓特征編碼器和晶圓失效分類器預(yù)測晶圓是否失效。

如需購買、轉(zhuǎn)讓、實施、許可或投資類似專利技術(shù),可聯(lián)系本專利的申請人或?qū)@麢?quán)人浙江大學(xué);浙江創(chuàng)芯集成電路有限公司,其通訊地址為:310058 浙江省杭州市西湖區(qū)余杭塘路866號;或者聯(lián)系龍圖騰網(wǎng)官方客服,聯(lián)系龍圖騰網(wǎng)可撥打電話0551-65771310或微信搜索“龍圖騰網(wǎng)”。

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