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龍圖騰網恭喜中國核電工程有限公司申請的專利一種用于微量放射性元素同時測量的X射線熒光分析系統獲國家發明授權專利權，本發明授權專利權由國家知識產權局授予，授權公告號為：CN115825131B 。

龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-05-16發布的發明授權授權公告中獲悉：該發明授權的專利申請號/專利號為：202211239061.4，技術領域涉及：G01N23/223；該發明授權一種用于微量放射性元素同時測量的X射線熒光分析系統是由馬敬;房映彤;劉權衛;楊菡;趙雅平;張兆清設計研發完成，并于2022-10-11向國家知識產權局提交的專利申請。

本一種用于微量放射性元素同時測量的X射線熒光分析系統在說明書摘要公布了：本發明提供一種用于微量放射性元素同時測量的X射線熒光分析系統，高壓發生器朝向X光管中的靶材發射電子，靶材響應于電子入射而發射原級X射線，半環彎晶衍射器從中分離出預設能量范圍的X射線，并聚焦后導向至樣品室中的樣品上，樣品響應于預設能量范圍的X射線入射而發射熒光X射線，放射性元素探測組件中的全環彎晶衍射器從中分離出放射性元素的特征X射線，并聚焦后導向至探測器中，不同的放射性元素探測組件用于探測并接收不同放射性元素的特征X射線。本發明可提高光源的衍射效果和聚焦性，實現單色X射線的篩選，大大降低放射性元素的檢出限，提高測量準確度，同時從硬件的單色性克服不同質量濃度下多個放射性元素譜峰的重疊干擾問題。

本發明授權一種用于微量放射性元素同時測量的X射線熒光分析系統在權利要求書中公布了：1.一種用于微量放射性元素同時測量的X射線熒光分析系統，其特征在于，包括：高壓發生器、X光管、半環彎晶衍射器、樣品室、多個放射性元素探測組件，所述高壓發生器設于X光管的一側，用于朝向X光管中的靶材發射電子，以使所述靶材響應于電子入射而發射原級X射線，所述半環彎晶衍射器設于X光管和樣品室之間，用于從所述原級X射線中分離出預設能量范圍的X射線，并聚焦后導向至樣品室中的樣品上，所述樣品室用于放置放射性樣品，所述放射性樣品響應于所述預設能量范圍的X射線入射而發射熒光X射線，所述放射性元素探測組件包括全環彎晶衍射器和放射性元素探測器，全環彎晶衍射器設于樣品室和放射性元素探測器之間，用于從所述熒光X射線中分離出放射性元素的特征X射線，并聚焦后導向至探測器中，不同的放射性元素探測組件用于探測并接收不同放射性元素的特征X射線；所述全環彎晶衍射器具有梭形通孔，所述梭形通孔的孔壁形成所述全環彎晶衍射器的衍射面，或，所述全環彎晶衍射器包括兩個半環彎晶衍射器，所述半環彎晶衍射器包括載體，所述載體具有凹面，所述凹面上沉積有石墨晶體，兩個半環彎晶衍射器對稱拼接后形成所述全環彎晶衍射器，兩個沉積有石墨晶體的凹面圍合形成梭形通孔，所述梭形通孔的孔壁形成所述全環彎晶衍射器的衍射面。

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