買專利賣專利找龍圖騰，真高效！ 查專利查商標用IPTOP,全免費！專利年費監控用IP管家,真方便！

龍圖騰網恭喜山東大學申請的專利一種任意級配的離散顆粒試樣的建模方法及系統獲國家發明授權專利權，本發明授權專利權由國家知識產權局授予，授權公告號為：CN115935771B 。

龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-05-16發布的發明授權授權公告中獲悉：該發明授權的專利申請號/專利號為：202211674903.9，技術領域涉及：G06F30/25；該發明授權一種任意級配的離散顆粒試樣的建模方法及系統是由褚開維;田海;荊穎;劉碩;高志然;余瑋;高凱;張宇恒設計研發完成，并于2022-12-26向國家知識產權局提交的專利申請。

本一種任意級配的離散顆粒試樣的建模方法及系統在說明書摘要公布了：本發明涉及離散元建模與仿真技術領域，提供了一種任意級配的離散顆粒試樣的建模方法及系統，包括：對于大于閾值的半徑區間，基于計算出的半徑區間內的顆粒數，按半徑區間由大到小的順序，依次隨機生成顆粒，并投放進閉合形狀；對于小于閾值的半徑區間，基于計算出的半徑區間內的顆粒數，按半徑區間由大到小的順序，依次采用團簇方式生成顆粒，并投放進閉合形狀；對閉合形狀內的顆粒施加隨時間線性減小的超重力沉降或壓應力，同時釋放內應力，得到顆粒分布模型。提高了試樣填充的密度，更快達到指定孔隙率，有效提高了試樣制備的效率。

本發明授權一種任意級配的離散顆粒試樣的建模方法及系統在權利要求書中公布了：1.一種任意級配的離散顆粒試樣的建模方法，其特征在于，包括：獲取模型范圍、顆?？紫堵屎皖w粒級配曲線；根據模型范圍，生成任意閉合形狀；根據模型范圍、顆粒孔隙率和顆粒級配曲線，計算顆粒的總數目，并根據顆粒級配曲線，得到若干個半徑區間后，結合顆粒的總數目，計算出每個半徑區間內的顆粒數；對于大于閾值的半徑區間，基于計算出的半徑區間內的顆粒數，按半徑區間由大到小的順序，依次隨機生成顆粒，并投放進閉合形狀；對于小于閾值的半徑區間，基于計算出的半徑區間內的顆粒數，按半徑區間由大到小的順序，依次采用團簇方式生成顆粒，并投放進閉合形狀；對閉合形狀內的顆粒施加隨時間線性減小的超重力沉降或壓應力，同時釋放內應力，得到顆粒分布模型。

如需購買、轉讓、實施、許可或投資類似專利技術，可聯系本專利的申請人或專利權人山東大學，其通訊地址為：250000 山東省濟南市市中區二環東路12550號；或者聯系龍圖騰網官方客服，聯系龍圖騰網可撥打電話0551-65771310或微信搜索“龍圖騰網”。