恭喜哈爾濱工業(yè)大學(威海)王瑞獲國家專利權
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龍圖騰網恭喜哈爾濱工業(yè)大學(威海)申請的專利基于誤差分析的雷達天線裝配過程優(yōu)化方法獲國家發(fā)明授權專利權，本發(fā)明授權專利權由國家知識產權局授予，授權公告號為：CN114595558B 。
龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-05-13發(fā)布的發(fā)明授權授權公告中獲悉：該發(fā)明授權的專利申請?zhí)?專利號為：202210102484.5，技術領域涉及：G06F30/20；該發(fā)明授權基于誤差分析的雷達天線裝配過程優(yōu)化方法是由王瑞;王琳;鐘詩勝;薛佳設計研發(fā)完成，并于2022-01-27向國家知識產權局提交的專利申請。
本基于誤差分析的雷達天線裝配過程優(yōu)化方法在說明書摘要公布了：本申請?zhí)峁┝艘环N基于誤差分析的雷達天線裝配過程優(yōu)化方法，包括電性能與天線單元誤差關聯(lián)分析和采用誤差分析對裝配過程進行優(yōu)化。本申請?zhí)峁┑幕谡`差分析的雷達天線裝配過程優(yōu)化方法，經過優(yōu)化后的排序降低了位置誤差的影響，接近理想位置的電場值。
本發(fā)明授權基于誤差分析的雷達天線裝配過程優(yōu)化方法在權利要求書中公布了：1.基于誤差分析的雷達天線裝配過程優(yōu)化方法，其特征在于：包括電性能與天線單元誤差關聯(lián)分析和采用誤差分析對裝配過程進行優(yōu)化；電性能與天線單元誤差關聯(lián)分析包括以下步驟：步驟S101：陣面電性能計算；步驟S102：陣面遠場方向圖計算；步驟S103：陣面電場靈敏度分析；步驟S103中，天線由于全陣面一共包含上百個子陣，計算陣列公差靈敏度，分配不同位置的公差分布，再將帶有不同位置誤差范圍的子陣安置在合適的位置；對可導函數(shù)--場強方向圖進行求導，可得陣列天線電場強度對天線單元位置的靈敏度，計算模型為： （10） （11） （12）；采用誤差分析對裝配過程進行優(yōu)化包括以下步驟：步驟S201：建立天線單元位置誤差模型，將誤差小的集中于陣面中心，對帶有位置誤差的子陣重新排布；步驟S202：天線遠場方向圖計算，步驟S203：優(yōu)化后裝配順序仿真驗證。
如需購買、轉讓、實施、許可或投資類似專利技術，可聯(lián)系本專利的申請人或專利權人哈爾濱工業(yè)大學(威海)，其通訊地址為：264209 山東省威海市文化西路2號；或者聯(lián)系龍圖騰網官方客服，聯(lián)系龍圖騰網可撥打電話0551-65771310或微信搜索“龍圖騰網”。
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1、本報告根據公開、合法渠道獲得相關數(shù)據和信息，力求客觀、公正，但并不保證數(shù)據的最終完整性和準確性。
2、報告中的分析和結論僅反映本公司于發(fā)布本報告當日的職業(yè)理解，僅供參考使用，不能作為本公司承擔任何法律責任的依據或者憑證。
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