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龍圖騰網(wǎng)恭喜國網(wǎng)智能電網(wǎng)研究院有限公司;國網(wǎng)河南省電力公司電力科學研究院;國家電網(wǎng)有限公司申請的專利一種電場屏蔽效能測算方法、系統(tǒng)及電子設備獲國家發(fā)明授權專利權，本發(fā)明授權專利權由國家知識產(chǎn)權局授予，授權公告號為：CN114994434B 。

龍圖騰網(wǎng)通過國家知識產(chǎn)權局官網(wǎng)在2025-05-13發(fā)布的發(fā)明授權授權公告中獲悉：該發(fā)明授權的專利申請?zhí)?專利號為：202210564443.8，技術領域涉及：G01R31/00；該發(fā)明授權一種電場屏蔽效能測算方法、系統(tǒng)及電子設備是由牛曉晨;黃杰;陳碩;劉占元;謝凱設計研發(fā)完成，并于2022-05-23向國家知識產(chǎn)權局提交的專利申請。

本一種電場屏蔽效能測算方法、系統(tǒng)及電子設備在說明書摘要公布了：本申請公開了一種電場屏蔽效能測算方法、系統(tǒng)及電子設備，能夠對電場屏蔽效能進行全面精準測算。所述方法包括：將待測電子器件設置在干擾電場中；分別在有屏蔽殼體與無屏蔽殼體時，調(diào)整所述干擾電場的場參數(shù)并采集目標分析區(qū)域在不同所述場參數(shù)下的電場信息；根據(jù)所述電場信息計算確定所述目標分析區(qū)域的場強均值；根據(jù)有屏蔽殼體與無屏蔽殼體時的所述場強均值之比計算確定電場屏蔽效能。所述系統(tǒng)電場干擾單元、電場信息采集單元、場強均值計算單元以及電場屏蔽效能計算單元。所述電子設備包括存儲器、處理器以及存儲在存儲器上并可在處理器上運行的計算機程序，所述處理器執(zhí)行所述計算機程序時實現(xiàn)所述電場屏蔽效能測算方法。

本發(fā)明授權一種電場屏蔽效能測算方法、系統(tǒng)及電子設備在權利要求書中公布了：1.一種電場屏蔽效能測算方法，其特征在于，所述方法包括：將待測電子器件設置在干擾電場中，所述待測電子器件具有去除屏蔽殼體的第一狀態(tài)與設置屏蔽殼體的第二狀態(tài)；分別在所述第一狀態(tài)與所述第二狀態(tài)下，調(diào)整所述干擾電場的場參數(shù)并采集所述待測電子器件中目標分析區(qū)域在不同所述場參數(shù)下的電場信息；根據(jù)所述電場信息計算確定所述目標分析區(qū)域的場強均值；根據(jù)所述第一狀態(tài)與所述第二狀態(tài)相對應所述場強均值之比計算確定電場屏蔽效能；所述根據(jù)所述電場信息計算確定所述目標分析區(qū)域的場強均值，包括：根據(jù)所述電場信息對所述目標分析區(qū)域的電場進行對稱性判斷；響應于所述目標分析區(qū)域的電場對稱分布，選取對稱軸為采樣曲線，采用曲線采樣方式計算所述場強均值；響應于所述目標分析區(qū)域的電場非對稱分布，以所述目標分析區(qū)域所處面為采樣曲面，采用曲面采樣方式計算所述場強均值；所述采用曲線采樣方式計算所述場強均值，包括：確定所述采樣曲線上多個采樣點的所述電場強度；根據(jù)多個所述采樣點的所述電場強度計算確定沿所述采樣曲線的線積分均值作為所述場強均值：Eavg_l＝∫lEdll其中，Eavg_l表示所述線積分均值，E表示所述電場強度，l表示所述采樣曲線；所述采用曲面采樣方式計算所述場強均值，包括：確定所述采樣曲面上多個采樣點的所述電場強度；根據(jù)多個所述采樣點的所述電場強度計算確定沿所述采樣曲面的面積分均值作為所述場強均值： 其中，Eavg_S表示所述面積分均值，E表示所述電場強度，S表示所述采樣曲面。

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