恭喜同濟大學(xué)韋莉獲國家專利權(quán)
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龍圖騰網(wǎng)恭喜同濟大學(xué)申請的專利一種適用于稀疏數(shù)據(jù)的超級電容等效電路參數(shù)辨識方法獲國家發(fā)明授權(quán)專利權(quán),本發(fā)明授權(quán)專利權(quán)由國家知識產(chǎn)權(quán)局授予,授權(quán)公告號為:CN115329246B 。
龍圖騰網(wǎng)通過國家知識產(chǎn)權(quán)局官網(wǎng)在2025-05-13發(fā)布的發(fā)明授權(quán)授權(quán)公告中獲悉:該發(fā)明授權(quán)的專利申請?zhí)?專利號為:202210886369.1,技術(shù)領(lǐng)域涉及:G06F17/10;該發(fā)明授權(quán)一種適用于稀疏數(shù)據(jù)的超級電容等效電路參數(shù)辨識方法是由韋莉;黃雪林設(shè)計研發(fā)完成,并于2022-07-26向國家知識產(chǎn)權(quán)局提交的專利申請。
本一種適用于稀疏數(shù)據(jù)的超級電容等效電路參數(shù)辨識方法在說明書摘要公布了:本發(fā)明提供了一種適用于稀疏數(shù)據(jù)的超級電容等效電路參數(shù)辨識方法,基于內(nèi)點法函數(shù)法,在給出辨識參數(shù)上下限的約束條件下,直接選取電路參數(shù)作為求解變量,通過模型端電壓誤差修正求解變量,實現(xiàn)參數(shù)辨識。該方法避免了求解差分方程系數(shù)的中間環(huán)節(jié),提高了算法在數(shù)據(jù)稀疏和存在干擾條件下的穩(wěn)定性。同時,算法在設(shè)定的參數(shù)范圍內(nèi)進行辨識,一定程度上保證了辨識結(jié)果的合理性。本發(fā)明所提參數(shù)辨識方法使得大量長期累積的超級電容車載監(jiān)控稀疏數(shù)據(jù)能夠得到利用,為稀疏數(shù)據(jù)下的超級電容老化信息提取提供新思路,對超級電容服役壽命預(yù)測和優(yōu)化管理具有重要意義。
本發(fā)明授權(quán)一種適用于稀疏數(shù)據(jù)的超級電容等效電路參數(shù)辨識方法在權(quán)利要求書中公布了:1.一種適用于稀疏數(shù)據(jù)的超級電容等效電路參數(shù)辨識方法,其特征在于,包括步驟:步驟1:在實驗室測試條件下,對待測超級電容進行隨機變電流放電實驗,測量超級電容端電壓U、電流I;步驟2:對選取的超級電容一階等效電路模型建立狀態(tài)空間方程;步驟3:基于采集數(shù)據(jù)和狀態(tài)空間方程解構(gòu)建適應(yīng)度函數(shù);步驟4:基于內(nèi)點罰函數(shù)法對待求解參數(shù)向量進行優(yōu)化,得到辨識結(jié)果;步驟5:將辨識得到參數(shù)結(jié)果說明辨識效果;步驟2中,具體為:所述超級電容一階等效電路模型包含串聯(lián)內(nèi)阻Rs,并聯(lián)電阻Rp和并聯(lián)電容Cp;I為流過超級電容模型的電流,與實測電流I含義相同;Ut和Up分別表示超級電容模型端電壓和并聯(lián)支路電壓,列寫的離散狀態(tài)空間方程如式1所示: 其中k表示離散時刻標(biāo)志,Ts表示采樣間隔,與采樣頻率fs的關(guān)系為Ts=1fs,由式1可知,在已知模型電流I和初始電容電壓Up0的條件下,推導(dǎo)出每一個k時刻下的超級電容模型端電壓Utk;得離散狀態(tài)空間方程的解,如式2所示; 其中,步驟3中,具體為:將待辨識的電路參數(shù)視為待求解參數(shù)向量x=[x1,x2,x3,x4]T=[Rs,Rp,Cp,Up0]T,以差值平方和衡量模型輸出端電壓Ut與采集電壓信號U之間的誤差,誤差記為適應(yīng)度函數(shù)fx,如式3所示,其中N為電壓信號采集總數(shù); 步驟4中,具體為:將待求解參數(shù)向量x辨識問題等價為在x的可行域內(nèi)的不等式約束優(yōu)化問題: 即在x的上下限間進行優(yōu)化求解,以達(dá)到最小化適應(yīng)度函數(shù)fx的目標(biāo),其中xm是x的第m個分量,xm,lower和xm,upper分別為xm的取值上下限,g1x~g8x表示求解變量的約束函數(shù);內(nèi)點罰函數(shù)法通過約束函數(shù)的自然對數(shù)之和作為懲罰項Px構(gòu)造輔助函數(shù),使得優(yōu)化過程能夠在約束條件構(gòu)成的可行域內(nèi)進行: 其中μ為罰參數(shù);步驟5中,具體為:將辨識得到參數(shù)結(jié)果代入式2中求得在該參數(shù)下的超級電容模型端電壓通過與實際采集電壓U比較并計算二者平均絕對誤差,以說明參數(shù)辨識效果,如式8所示;
如需購買、轉(zhuǎn)讓、實施、許可或投資類似專利技術(shù),可聯(lián)系本專利的申請人或?qū)@麢?quán)人同濟大學(xué),其通訊地址為:200092 上海市楊浦區(qū)四平路1239號;或者聯(lián)系龍圖騰網(wǎng)官方客服,聯(lián)系龍圖騰網(wǎng)可撥打電話0551-65771310或微信搜索“龍圖騰網(wǎng)”。
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