買專利賣專利找龍圖騰，真高效！ 查專利查商標用IPTOP,全免費！專利年費監控用IP管家,真方便！

龍圖騰網恭喜天津大學申請的專利GPU并行二維顆粒非連續變形分析方法、裝置、介質及設備獲國家發明授權專利權，本發明授權專利權由國家知識產權局授予，授權公告號為：CN115221764B 。

龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-05-13發布的發明授權授權公告中獲悉：該發明授權的專利申請號/專利號為：202210920461.5，技術領域涉及：G06F30/23；該發明授權GPU并行二維顆粒非連續變形分析方法、裝置、介質及設備是由劉豐;陳澤雕;吳幫標;徐穎;夏開文設計研發完成，并于2022-08-02向國家知識產權局提交的專利申請。

本GPU并行二維顆粒非連續變形分析方法、裝置、介質及設備在說明書摘要公布了：本發明提供一種GPU并行的二維顆粒非連續變形分析方法、裝置、介質及設備，屬于計算機程序虛擬現實模擬技術領域。該方法包括：建立待分析二維顆粒離散化模型、材料屬性及控制參數信息；將所述待分析二維顆粒離散化模型、材料屬性及控制參數信息數據傳輸到GPU中；進行接觸對檢索，得到所述待分析二維顆粒接觸對及接觸狀態；由最小勢能原理組裝非接觸力剛度矩陣；針對所述待分析二維顆粒接觸對的接觸狀態由最小勢能原理組裝接觸力剛度矩陣；建立總體方程并求解；根據所述計算結果更新顆粒位置，速度，接觸對狀態信息。該裝置、存儲介質及設備能夠實現該方法。其能夠可實現巖土體動態和靜態模擬，并且，運行效率較高。

本發明授權GPU并行二維顆粒非連續變形分析方法、裝置、介質及設備在權利要求書中公布了：1.一種GPU并行顆粒非連續變形分析方法，其特征在于，包括以下步驟：S1、建立待分析顆粒離散化模型數據，包括顆粒的位置信息矩陣：橫坐標矩陣X，縱坐標矩陣Y，半徑信息矩陣R，材料屬性信息矩陣MAT及控制參數信息，將顆粒從1-Nump編號，Nump為顆粒的數量；S2、將所述待分析顆粒離散化模型數據信息傳輸到GPU中，所述待分析顆粒離散化模型數據信息是使用MATLAB內置函數gpuArray寫入到GPU中；S3、進行接觸檢索，得到所述待分析顆粒接觸對及待分析顆粒接觸對的接觸狀態；S4、由最小勢能原理組裝非接觸力剛度矩陣和荷載矩陣；S5、根據所述待分析顆粒接觸對的接觸狀態通過最小勢能原理組裝接觸力剛度矩陣和荷載矩陣；S6、將所述顆粒的位移量作為未知量，與剛度矩陣和荷載矩陣聯立，建立總體方程并求解所述總體方程得到當前所述顆粒的位移量；S7、根據解所述方程得到的所述顆粒位移量更新所述顆粒接觸對接觸狀態；S8、判斷所述接觸狀態是否收斂，如果不收斂則重復執行設定次數的S5-S7，如果重復設定次數后仍不收斂，則縮短計算時步再執行S5-S7；S8、根據所述計算結果更新所述顆粒位置，受力，速度，與接觸相關信息；S9、循環執行S3-S8即可實現GPU并行的顆粒非連續變形分析數值模擬。

如需購買、轉讓、實施、許可或投資類似專利技術，可聯系本專利的申請人或專利權人天津大學，其通訊地址為：300072 天津市南開區衛津路92號；或者聯系龍圖騰網官方客服，聯系龍圖騰網可撥打電話0551-65771310或微信搜索“龍圖騰網”。