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龍圖騰網恭喜深圳市華力宇電子科技有限公司申請的專利IC芯片燒錄檢測裝置及檢測方法獲國家發明授權專利權，本發明授權專利權由國家知識產權局授予，授權公告號為：CN115684204B 。

龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-05-13發布的發明授權授權公告中獲悉：該發明授權的專利申請號/專利號為：202211361561.5，技術領域涉及：G01N21/95；該發明授權IC芯片燒錄檢測裝置及檢測方法是由鄧伍群;李義靠設計研發完成，并于2022-11-02向國家知識產權局提交的專利申請。

本IC芯片燒錄檢測裝置及檢測方法在說明書摘要公布了：本申請公開了一種IC芯片燒錄檢測裝置及檢測方法，包括安裝組件、軌道組件、檢測組件以及轉移組件，軌道組件包括過渡通道、出料通道以及編帶傳輸通道，過渡通道與出料通道之間設置有3D檢測區和IC轉移區；檢測組件包括3D檢測機構；轉移組件設置在過渡通道與編帶傳輸通道之間，包括固定設置在安裝基板上的支撐立板以及活動設置在支撐立板上的取料機構，取料機構用于將IC轉移區中的IC芯片轉移至編帶傳輸通道中。在IC芯片移動出料的過程中能夠對IC芯片進行3D檢測，針對合格的IC芯片，可以利用轉移組件將IC芯片轉移至編帶傳輸通道中，針對不合格的IC芯片可以直接出料，利用該裝置可以實現IC芯片的多種處理方式，大大提高了IC芯片的檢測效率。

本發明授權IC芯片燒錄檢測裝置及檢測方法在權利要求書中公布了：1.一種IC芯片燒錄檢測裝置，其特征在于，包括：安裝組件10，包括用于安裝在燒錄設備上的安裝基板11以及設置在安裝基板11上的連接板12；軌道組件20，設置在安裝組件10上，包括過渡通道21、出料通道22以及編帶傳輸通道23，所述過渡通道21用于與燒錄設備中的軌道相接，以供IC芯片傳輸，所述過渡通道21與出料通道22之間設置有3D檢測區24和IC轉移區25；檢測組件30，包括3D檢測機構31，所述3D檢測機構31的檢測端正對于所述3D檢測區24，用于檢測位于所述3D檢測區24中的IC芯片；轉移組件40，設置在所述過渡通道21與所述編帶傳輸通道23之間，包括固定設置在所述安裝基板11上的支撐立板41以及活動設置在所述支撐立板41上的取料機構44，所述支撐立板41上設置有限位弧槽411，所述取料機構44與限位弧槽411相配合，利用所述限位弧槽411以限制所述取料機構44的活動行程，使所述取料機構44將所述IC轉移區25中的IC芯片轉移至所述編帶傳輸通道23中；所述取料機構44包括取料頭441以及與取料頭441固定連接的吸嘴442，所述吸嘴442用于吸取IC芯片，所述取料頭441上設置有限位軸443；所述轉移組件40還包括主驅動機構42以及從驅動機構43；所述主驅動機構42包括轉動連接在所述支撐立板41上的轉動軸422以及與轉動軸422固定連接的偏心擺動板423，所述偏心擺動板423設置在所述轉動軸422的外圓周側，所述偏心擺動板423上開設有限位卡槽424，所述限位軸443穿過所述限位卡槽424并與所述限位弧槽411滑動卡接配合；所述從驅動機構43包括轉動設置在所述支撐立板41上的轉動座431、固定連接在轉動座431上的滑軌432以及與滑軌432滑移連接的滑條433，所述滑條433與所述取料頭441固定連接。

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