恭喜中國(guó)計(jì)量大學(xué)宋濤獲國(guó)家專利權(quán)
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龍圖騰網(wǎng)恭喜中國(guó)計(jì)量大學(xué)申請(qǐng)的專利一種標(biāo)簽印刷品表面缺陷檢測(cè)方法獲國(guó)家發(fā)明授權(quán)專利權(quán),本發(fā)明授權(quán)專利權(quán)由國(guó)家知識(shí)產(chǎn)權(quán)局授予,授權(quán)公告號(hào)為:CN119579600B 。
龍圖騰網(wǎng)通過國(guó)家知識(shí)產(chǎn)權(quán)局官網(wǎng)在2025-05-09發(fā)布的發(fā)明授權(quán)授權(quán)公告中獲悉:該發(fā)明授權(quán)的專利申請(qǐng)?zhí)?專利號(hào)為:202510138018.6,技術(shù)領(lǐng)域涉及:G06T7/00;該發(fā)明授權(quán)一種標(biāo)簽印刷品表面缺陷檢測(cè)方法是由宋濤;彭桂峰;曹松曉;蔣慶;周喬君設(shè)計(jì)研發(fā)完成,并于2025-02-08向國(guó)家知識(shí)產(chǎn)權(quán)局提交的專利申請(qǐng)。
本一種標(biāo)簽印刷品表面缺陷檢測(cè)方法在說明書摘要公布了:本發(fā)明涉及印刷品檢測(cè)技術(shù)領(lǐng)域,具體涉及一種標(biāo)簽印刷品表面缺陷檢測(cè)方法。方法包括以下步驟:S1,獲取多張標(biāo)簽印刷品表面圖像;S2,根據(jù)標(biāo)準(zhǔn)圖像集構(gòu)建檢測(cè)模型;S3,獲取待檢測(cè)印刷品圖像,進(jìn)行預(yù)處理得到待提取圖像;S4,根據(jù)模板圖像和待處理圖像之間的像素差異程度計(jì)算自適應(yīng)調(diào)節(jié)參數(shù)alpha,根據(jù)模板圖像和待處理圖像之間的梯度差異信息計(jì)算自適應(yīng)調(diào)節(jié)參數(shù)belta;S5,結(jié)合自適應(yīng)調(diào)節(jié)參數(shù)alpha、自適應(yīng)調(diào)節(jié)參數(shù)belta、亮度偏差圖像以及檢測(cè)模型圖像,獲取缺陷分割圖像,根據(jù)分割圖像對(duì)缺陷進(jìn)行定位。本發(fā)明提供一種標(biāo)簽印刷品表面缺陷檢測(cè)方法,能夠針對(duì)具有印刷圖形及亮度不均勻的標(biāo)簽印刷品圖像中的缺陷進(jìn)行準(zhǔn)確提取和定位。
本發(fā)明授權(quán)一種標(biāo)簽印刷品表面缺陷檢測(cè)方法在權(quán)利要求書中公布了:1.一種標(biāo)簽印刷品表面缺陷檢測(cè)方法,其特征在于,包括以下步驟:S1,獲取多張標(biāo)簽印刷品表面圖像,進(jìn)行預(yù)處理得到標(biāo)準(zhǔn)圖像集;S2,根據(jù)標(biāo)準(zhǔn)圖像集,統(tǒng)計(jì)計(jì)算得到模板圖像和亮度偏差圖像,以構(gòu)建檢測(cè)模型圖像;S3,獲取待檢測(cè)印刷品圖像,進(jìn)行預(yù)處理得到待處理圖像;S4,根據(jù)模板圖像和待處理圖像之間的像素差異程度計(jì)算自適應(yīng)調(diào)節(jié)參數(shù)alpha,根據(jù)模板圖像和待處理圖像之間的梯度差異信息計(jì)算自適應(yīng)調(diào)節(jié)參數(shù)belta;S5,結(jié)合自適應(yīng)調(diào)節(jié)參數(shù)alpha、自適應(yīng)調(diào)節(jié)參數(shù)belta、亮度偏差圖像以及檢測(cè)模型圖像,對(duì)待處理圖像進(jìn)行自適應(yīng)動(dòng)態(tài)閾值的差分計(jì)算,獲取缺陷分割圖像,根據(jù)分割圖像對(duì)缺陷進(jìn)行定位;所述S5通過亮度偏差圖像結(jié)合自適應(yīng)調(diào)節(jié)參數(shù)alpha和belta計(jì)算動(dòng)態(tài)閾值,并對(duì)模板圖像與待處理圖像的差分結(jié)果根據(jù)閾值進(jìn)行缺陷判別與分割,判別算式為: ; ;其中,和分別為待處理圖像中被測(cè)像素對(duì)應(yīng)的亮缺陷和暗缺陷判別動(dòng)態(tài)閾值,為缺陷分割二值圖,為模板圖像與待處理圖像的差分圖,為動(dòng)態(tài)閾值;T為絕對(duì)靜態(tài)閾值且,為亮偏差圖像,為暗偏差圖像。
如需購(gòu)買、轉(zhuǎn)讓、實(shí)施、許可或投資類似專利技術(shù),可聯(lián)系本專利的申請(qǐng)人或?qū)@麢?quán)人中國(guó)計(jì)量大學(xué),其通訊地址為:310000 浙江省杭州市下沙高教園區(qū)學(xué)源街258號(hào);或者聯(lián)系龍圖騰網(wǎng)官方客服,聯(lián)系龍圖騰網(wǎng)可撥打電話0551-65771310或微信搜索“龍圖騰網(wǎng)”。
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