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龍圖騰網恭喜湖南匯成鑫科技有限公司申請的專利一種基于光學-磁學多模態融合的OLED屏幕缺陷檢測方法獲國家發明授權專利權，本發明授權專利權由國家知識產權局授予，授權公告號為：CN119780107B 。

龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-05-09發布的發明授權授權公告中獲悉：該發明授權的專利申請號/專利號為：202510277167.0，技術領域涉及：G01N21/88；該發明授權一種基于光學-磁學多模態融合的OLED屏幕缺陷檢測方法是由朱以銳;蔣金剛;鄧薇;黃寧;尹純;連彥秋設計研發完成，并于2025-03-10向國家知識產權局提交的專利申請。

本一種基于光學-磁學多模態融合的OLED屏幕缺陷檢測方法在說明書摘要公布了：本發明涉及缺陷檢測技術領域，尤其涉及一種基于光學?磁學多模態融合的OLED屏幕缺陷檢測方法，包括如下步驟：S1：基于脈沖式電流驅動的同步激發與數據采集；S2：跨模態空間標定與噪聲抑制；S3：偏振?磁場耦合特征提取；S4：動態關聯決策與閉環反饋，包括通過多模態數據的關聯分析，實現缺陷的分級判定，通過電流過載測試，驗證缺陷的真實性。本方法有效解決了現有技術中存在的環境光干擾、漏檢、高成本、低分辨率等問題，具有顯著的有益效果，能夠提高檢測準確性、效率和可靠性，滿足大規模生產線的需求，并且能夠高效定位和減少檢測過程中的錯誤和冗余步驟。

本發明授權一種基于光學-磁學多模態融合的OLED屏幕缺陷檢測方法在權利要求書中公布了：1.一種基于光學-磁學多模態融合的OLED屏幕缺陷檢測方法，其特征在于，包括如下步驟：S1：基于脈沖式電流驅動的同步激發與數據采集，包括對OLED屏幕進行瞬態電流激勵，覆蓋1-10MHz的瞬態響應頻率范圍，并通過構建雙通道光學成像，檢測屏幕表面的應變變化和屏幕內部的透射率變化，通過磁學檢測系統檢測屏幕內部的磁場梯度變化；S2：跨模態空間標定與噪聲抑制，包括通過動態掩膜生成算法提取磁學電流密度圖中的高梯度區域，聚焦于缺陷區域；通過光學噪聲濾除，剔除包括環境光和屏幕自發光的噪聲，保留與缺陷相關的光學信號；S3：偏振-磁場耦合特征提取，包括通過偏振干涉條紋的小波變換，量化裂紋深度，區分表面劃痕與內部裂紋；通過時間導數和磁場相位滯后，區分表面臟污與內部裂紋；S4：動態關聯決策與閉環反饋，包括通過多模態數據的關聯分析，實現缺陷的分級判定，通過電流過載測試，驗證缺陷的真實性。

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