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龍圖騰網恭喜圣邦微電子(北京)股份有限公司申請的專利一種改善芯片測試設備測試精度的電路及方法獲國家發明授權專利權，本發明授權專利權由國家知識產權局授予，授權公告號為：CN115327191B 。

龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-05-06發布的發明授權授權公告中獲悉：該發明授權的專利申請號/專利號為：202110511361.2，技術領域涉及：G01R1/30；該發明授權一種改善芯片測試設備測試精度的電路及方法是由張新城;于美潔設計研發完成，并于2021-05-11向國家知識產權局提交的專利申請。

本一種改善芯片測試設備測試精度的電路及方法在說明書摘要公布了：一種改善芯片測試設備測試精度的電路及方法，其特征在于：電路包括DUT信號生成單元、同步時鐘信號生成單元、第一開關單元、第二開關單元和減法器；其中，DUT信號生成單元，向同第一開關單元輸送DUT信號；同步時鐘信號生成單元，用于采集DUT信號以對時鐘信號進行更新，以及基于第二控制信號的控制將更新后的時鐘信號發送至減法器；第一開關單元，用于控制DUT信號輸入至第二開關單元中，以及控制同步時鐘信號生成單元的開啟或關斷狀態；第二開關單元，用于控制同步時鐘信號輸入至減法器中；減法器，用于生成高精度待測信號。本發明中的電路能夠保護測試設備，改善待測信號，且結構簡單、成本低、效果好，應用廣泛。

本發明授權一種改善芯片測試設備測試精度的電路及方法在權利要求書中公布了：1.一種改善芯片測試設備測試精度的電路，其特征在于：所述電路包括DUT信號生成單元、同步時鐘信號生成單元、第一開關單元、第二開關單元和減法器；其中，所述DUT信號生成單元，與所述同步時鐘信號生成單元和第一開關單元連接，用于向所述同步時鐘信號生成單元和第一開關單元輸送DUT信號；所述同步時鐘信號生成單元，與所述DUT信號生成單元、第一開關單元、第二開關單元連接，用于基于第一開關單元的第一控制信號實現開啟或關斷，并采集DUT信號以對時鐘信號進行更新，以及基于第二開關單元的第二控制信號的控制將更新后的時鐘信號發送至減法器；所述第一開關單元，與所述DUT信號生成單元、同步時鐘信號生成單元、第二開關單元和減法器分別連接，用于生成第一控制信號并控制所述DUT信號生成單元將其生成的DUT信號輸入至所述第二開關單元中，以及用于控制所述同步時鐘信號生成單元的開啟或關斷狀態；所述第二開關單元，與第一開關單元、同步時鐘信號生成單元、減法器連接，用于接收來自第一開關單元的第一控制信號，并基于所述第一控制信號生成第二控制信號，以控制同步時鐘信號輸入至所述減法器中；所述減法器，與所述第一控制單元、第二控制單元連接，用于采集來自第一控制單元的DUT信號和來自第二控制單元的同步時鐘信號并計算，以生成高精度待測信號。

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