恭喜牛津儀器納米技術(shù)工具有限公司安東尼·海德獲國家專利權(quán)
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龍圖騰網(wǎng)恭喜牛津儀器納米技術(shù)工具有限公司申請(qǐng)的專利多探測(cè)器實(shí)時(shí)化學(xué)成像獲國家發(fā)明授權(quán)專利權(quán),本發(fā)明授權(quán)專利權(quán)由國家知識(shí)產(chǎn)權(quán)局授予,授權(quán)公告號(hào)為:CN118348043B 。
龍圖騰網(wǎng)通過國家知識(shí)產(chǎn)權(quán)局官網(wǎng)在2025-05-06發(fā)布的發(fā)明授權(quán)授權(quán)公告中獲悉:該發(fā)明授權(quán)的專利申請(qǐng)?zhí)?專利號(hào)為:202410047455.2,技術(shù)領(lǐng)域涉及:G01N23/2252;該發(fā)明授權(quán)多探測(cè)器實(shí)時(shí)化學(xué)成像是由安東尼·海德;彼得·斯泰瑟姆;菲利普·皮納爾;西蒙·布格斯;海賽姆·曼蘇爾設(shè)計(jì)研發(fā)完成,并于2024-01-12向國家知識(shí)產(chǎn)權(quán)局提交的專利申請(qǐng)。
本多探測(cè)器實(shí)時(shí)化學(xué)成像在說明書摘要公布了:本發(fā)明涉及多探測(cè)器實(shí)時(shí)化學(xué)成像。提供了一種在顯微鏡中分析樣品的方法。該方法包括:使用電子探測(cè)器、第一X射線探測(cè)器和第二X射線探測(cè)器獲取一系列化合物圖像幀;使用電子探測(cè)器監(jiān)測(cè)從樣品區(qū)域內(nèi)的多個(gè)位置發(fā)射的一組所產(chǎn)生的電子,以獲得第一圖像幀;分別使用第一X射線探測(cè)器和第二X射線探測(cè)器監(jiān)測(cè)從多個(gè)位置發(fā)射的第一組所產(chǎn)生的X射線和第二組所產(chǎn)生的X射線,以獲得一個(gè)或以上第二圖像幀,其中該組電子和第一組X射線和第二組X射線基本上同時(shí)從樣品發(fā)射;以及將第一圖像幀和一個(gè)或以上第二圖像幀組合,以產(chǎn)生化合物圖像幀。還提供了一種用于在顯微鏡中分析樣品的系統(tǒng)。
本發(fā)明授權(quán)多探測(cè)器實(shí)時(shí)化學(xué)成像在權(quán)利要求書中公布了:1.一種用于在顯微鏡中分析樣品的方法,該方法包括:使用電子探測(cè)器、第一X射線探測(cè)器和第二X射線探測(cè)器獲取一系列化合物圖像幀,其中所述第一X射線探測(cè)器位于所述樣品和電子束源之間,聚焦電子束從所述電子束源朝向所述樣品出射,并且設(shè)有過濾器構(gòu)件,將所述過濾器構(gòu)件插入所述第一X射線探測(cè)器和所述樣品之間并且使其適于減少電子在所述第一X射線探測(cè)器上的入射,其中所述第二X射線探測(cè)器設(shè)有偏轉(zhuǎn)器裝置,所述偏轉(zhuǎn)器裝置配置為用于減少電子在所述第二X射線探測(cè)器上的入射,并且其中獲取化合物圖像幀包括:a使所述聚焦電子束穿越樣品區(qū)域;b使用所述電子探測(cè)器監(jiān)測(cè)從所述樣品區(qū)域內(nèi)的多個(gè)位置發(fā)射的一組所產(chǎn)生的電子,以獲得第一圖像幀,所述第一圖像幀包括多個(gè)像素,所述多個(gè)像素對(duì)應(yīng)于所述多個(gè)位置,且所述多個(gè)像素具有由從所述多個(gè)位置發(fā)射的監(jiān)測(cè)電子導(dǎo)出的值;c分別使用所述第一X射線探測(cè)器和所述第二X射線探測(cè)器監(jiān)測(cè)從所述多個(gè)位置發(fā)射的第一組所產(chǎn)生的X射線和第二組所產(chǎn)生的X射線,以獲得一個(gè)或以上第二圖像幀,所述第二圖像幀各自包括多個(gè)像素,所述多個(gè)像素對(duì)應(yīng)于所述多個(gè)位置并且具有根據(jù)相應(yīng)的第一標(biāo)準(zhǔn)由表征相應(yīng)化學(xué)元素且從所述多個(gè)位置發(fā)射的監(jiān)測(cè)X射線導(dǎo)出的值,其中對(duì)于各個(gè)所述一個(gè)或以上第二圖像幀,根據(jù)相應(yīng)的化學(xué)元素來配置相應(yīng)的第一標(biāo)準(zhǔn),其中該組電子以及所述第一組X射線和第二組X射線基本上同時(shí)從所述樣品發(fā)射;以及d將所述第一圖像幀和所述一個(gè)或以上第二圖像幀組合以產(chǎn)生所述化合物圖像幀,使得所述化合物圖像幀提供由從所述區(qū)域內(nèi)的多個(gè)位置發(fā)射的監(jiān)測(cè)電子和X射線導(dǎo)出的數(shù)據(jù),并在視覺顯示器上顯示所述一系列化合物圖像幀,其中更新所述視覺顯示器以按順序顯示各個(gè)化合物圖像幀。
如需購買、轉(zhuǎn)讓、實(shí)施、許可或投資類似專利技術(shù),可聯(lián)系本專利的申請(qǐng)人或?qū)@麢?quán)人牛津儀器納米技術(shù)工具有限公司,其通訊地址為:英國牛津郡;或者聯(lián)系龍圖騰網(wǎng)官方客服,聯(lián)系龍圖騰網(wǎng)可撥打電話0551-65771310或微信搜索“龍圖騰網(wǎng)”。
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